Загрузить
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Опробуйте БЕСПЛАТНО на своём ПК .

Product-series_4200-promo-options

Диапазон измерений
ВАХ пост. тока (I-V)

от 10 аА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В

Диапазон изм. вольт-фарадной хар-ки
(C-V)

от 1 кГц до 10 МГц
± 30 В пост. тока смещение

Диапазон импульсной ВАХ
(I-V)

±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мвыб/с, период выборки 5 нс

 

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

В настоящее время путь к внедрению новейших разработок максимально упрощён. Параметрический анализатор 4200A-SCS вдвое сокращает время от настройки до начала тестирования характеристик, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому добавляется накопленный годами опыт измерений — в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Оборудование для расширенных измерений ВАХ при постоянном токе, ВФХ и импульсных ВАХ
  • Исключение затрат времени на подготовку к тестированию за счёт сотен включённых в ПО Clarius тестов, которые адаптируются под требования пользователя
  • Автоматическое определение параметров в режиме реального времени, графики данных, аналитические функции

Точные измерения ВФХ

Ёмкости фарадного диапазона можно измерять при помощи новейшего модуля Keithley 4215-CVU, предназначенного для определения ВФХ. За счёт интеграции источника напряжения 1 В переменного тока в лучший в отрасли модуль для измерений ВФХ, прибор 4215-CVU Keithley может измерять ёмкости на частотах от 1 кГц до 10 МГц с минимальным уровнем шумов.

Основные преимущества

  • Лучший в своём классе приборов модуль для измерений ВФХ с источником напряжения 1 В переменного тока
  • Разрешение по частоте 1 кГц в диапазоне от 1 кГц до 10 Мгц
  • Измерения ёмкостей, полной и комплексной проводимости
  • Возможность использования до четырёх каналов для измерений при подключении коммутатора 4200A-CVIV Multiswitch

Измерения фемтофарадных (1e-15Ф) ёмкостей при помощи модуля 4215-CVU

4200A SCS Front Femtofarad

Измерение. Переключение. И возврат.

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Стабильные измерения малых токов для определения ВАХ

Модули 4201-SMU и 4211-SMU помогают добиться высокой точности и повторяемости измерений малых токов в системе с большими ёмкостями. Выбирая требуемый модуль из четырёх разных моделей источников-измерителей (SMU), можно настроить анализатор 4200A-SCS под любые требования заказчиков к измерениям ВАХ. Кроме того, предлагая SMU с установкой в полевых условиях и дополнительные модули предусилителей, компания Keithley обеспечивает самую высокую точность измерений малых токов при незначительном простое либо вообще без простоев оборудования.

Стабильные измерения малых токов при помощи модулей 4201-SMU и 4211-SMU в системах с большими ёмкостями тестовых соединений

Основные преимущества

  • Добавление модуля SMU без пересылки прибора изготовителю
  • Измерения фемтоамперных токов
  • До 9 каналов SMU
  • Модули оптимизированы для работы с длинными кабелями или большими держателями испытуемых устройств

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических зондовых устройств для тестирования полупроводниковых компонентов, а также с контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

Снижение затрат и защита капиталовложений

Планы Keithley Care обеспечивают быстрое оказание качественных услуг за часть стоимости, уплачиваемой при заказе услуги без договора. Начать ремонт можно в один клик или по телефону, нет необходимости запрашивать ценовое предложение, оформлять наряд-заказ или дожидаться согласования.

Подробнее

 

4200A SCS Front Femtofarad
Техническое описание Модель Описание Цена
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PKA
ВАХ с высоким разрешением
4200A-SCS: параметрический анализатор (основной блок)
4201-SMU: два источника-измерителя (SMU) средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями
4200-PA: предусилитель
8101-PIV: тестовая оснастка с типовыми устройствами
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PKB
ВАХ и ВФХ с высоким разрешением
4200A-SCS: параметрический анализатор (основной блок)
4201-SMU: два источника-измерителя (SMU) средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями
4200-PA: предусилитель
4215-CVU: многочастотный модуль для измерения ВФХ с высоким разрешением
8101-PIV: тестовая оснастка с типовыми устройствами
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PKC
ВАХ и ВФХ мощных устройств
4200A-SCS: параметрический анализатор (основной блок)
4201-SMU: два источника-измерителя (SMU) средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями
4211-SMU: два источника-измерителя (SMU) высокой мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями

4200-PA: два предусилителя
4215-CVU: многочастотный модуль для измерения ВФХ с высоким разрешением
8101-PIV: тестовая оснастка с типовыми устройствами
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200-BTI-A
Сверхбыстрый измеритель темп. нестабильности при отриц./положит. смещ.
Для сложных измерений температурной нестабильности при отрицательном и положительном смещении кремниевых КМОП приборов, созданных с применением самых современных технологий В комплект поставки 4200-BTI-A входят:
  • 1 модуль 4225-PMU для измерений сверхбыстрых импульсов тока и напряжения
  • 2 модуля дистанционного предусилителя/коммутатора 4225-RPM
  • Программное обеспечение Automated Characterization Suite (ACS)
  • Модуль планов тестирования импульсных характеристик и BTI
  • Кабели
Запросить цену
4210CVU-2

Измерения ёмкостей фемтофарадного диапазона

Ёмкости до 1 фемтофарада можно измерять при помощи модуля 4215-CVU. Так, при измерении ёмкости 1 фФ модулем 4215-CVU в режиме подачи управляющего напряжения 1 В переменного тока можно снизить уровень шума до шести аттофарад. И это только одна из нескольких десятков областей применения, которые интегрированы в ПО Clarius и используются для измерения ёмкостей и определения важных параметров.

Измерения фемтофарадных (1e-15Ф) ёмкостей при помощи модуля 4215-CVU

Оптимальные измерения ёмкостей и комплексного сопротивления переменному току

Основные преимущества

  • Встроенная функция измерения фемтофарадных ёмкостей
  • 10 000 выборок частоты в диапазоне от 1 кГц до 10 Мгц
  • Пользовательская настройка любого теста для любого устройства при помощи библиотеки пользователя

Надёжность полупроводниковых приборов и энергонезависимой памяти

При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.

Оценка деградации полевых МОП-транзисторов вследствие инжекции горячих носителей

Решения по измерению наносекундных импульсов, необходимые для тестирования энергонезависимой памяти

Определение импульсных ВАХ энергонезависимой памяти

Semiconductor and NVM Reliability
C-V Measurement for High Impedance Applications

Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств

Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.

Измерения ВФХ высокоимпедансных приборов на очень низких частотах при помощи параметрического анализатора 4200A-SCS

Методы и рекомендации для упрощения измерения характеристик полевых МОП-транзисторов и МОП-конденсаторов

Основные преимущества

  • Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
  • Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ

Тестирование при использовании длинных кабелей или оснастки с большими ёмкостями

Если при тестировании необходимы длинные кабели или оснастка с большими ёмкостями, рекомендуется использование источников-измерителей 4201 или 4211-SMU. Эти источники-измерители тестирования жидкокристаллических элементов, зондовым устройствам, коммутационным матрицам, а также многим другим большим или сложным системам тестирования. Модели с возможностью установки в полевых условиях позволяют расширять возможности систем тестирования без возврата прибора в сервисный центр.

Testing when using Long Cables or Capacitive Fixtures
Nanoscale Device Characterization

Определение характеристик наноразмерных устройств

Благодаря блочной архитектуре, анализатор 4200A-SCS может упростить требования к измерениям в быстро развивающейся наноэлектронике, в частности к тестированию углеродных нанотрубок. Исследования нужно начинать с предварительно заданного плана тестирования и на его основе расширять измерения. Импульсный режим работы источников-измерителей (SMU), решающий проблему перегрева, можно использовать для секундных измерений ВПФ при низком напряжении и сверхбыстрых импульсных ВАХ.

Определение электрических характеристик транзисторов на углеродных нанотрубках (CNT FET)

Удельное сопротивление материалов

При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 10­­­­16 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.

Измерения удельного сопротивления материалов с использованием параметрического анализатора 4200A-SCS и четырёхзондового метода измерения

Измерение напряжения Холла методом ван дер Пау при помощи параметрического анализатора 4200A-SCS

Resistivity of Materials
MOSFET Characterization

Определение характеристик полевых МОП-транзисторов

В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.

Определение вольт-фарадных характеристик МОП-конденсаторов при помощи параметрического анализатора 4200A-SCS

Техническое описание Модуль Описание Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4200A-CVIV КОММУТАЦИОННЫЙ БЛОК ВАХ/ВФХ (CVIV) Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4200-PA МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4200-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4225-RPM МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ/ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЯ Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4220-PGU МОДУЛЬ ГЕНЕРАТОРА ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ ИМПУЛЬСОВ Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4210-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4210-CVU МОДУЛЬ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4225-PMU МОДУЛЬ СВЕРХБЫСТРОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВАХ В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИМЕ Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4211-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4215-CVU МОДУЛЬ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК Конфигурация и ценовое предложение
Просмотр технического описания 4201-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT Конфигурация и ценовое предложение