Программное обеспечение Keithley Automated Characterization Suite (ACS)

Программное обеспечение Keithley Automated Characterization Suite (ACS)

ACS — это гибкая, интерактивная программная среда для тестирования, разработанная для характеризации полупроводниковых устройств, проверки надежности, параметрического и функционального тестирования компонентов. ACS поддерживает широкий диапазон приборов Keithley, а также системы S500 и S530. Исключительная гибкость тестирования и анализа, интуитивный графический интерфейс позволяют начинающим пользователям приобрести навыки работы практически мгновенно.

  • Интуитивный графический интерфейс пользователя упрощает разработку плана тестирования, проведение испытаний и анализ результатов
  • Разработка и проведение испытаний на уровне устройства, площадки, пластины и кассеты
  • Поддержка широкого диапазона конфигураций приборов и систем, включая параллельное тестирование с несколькими источниками-измерителями
  • Полное управление полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями
  • Интерактивное и оперативное графическое отображение данных

Thumbnail

Диапазон базисных цен
-
Купить/Запросить цену Questions? Chat Now
Программное обеспечение Keithley Automated Characterization Suite (ACS)
Модель Описание Прайс-лист
ACS-BASIC

Базовая версия ПО ACS Basic Edition в основном предназначена для тестирования полупроводниковых компонентов с использованием ручной измерительной станции или тестовой оснастки. Выполните начальное определение характеристик устройства быстро и интерактивно в режиме «Trace Mode» (режим характериографа). Или создайте тесты для полной экстракции параметров устройства, используя экран настройки на базе графического пользовательского интерфейса и обширных библиотек измерений.

-
Конфигурация и цена
ACS.

ACS поддерживает широкий диапазон полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций для измерений характеристик полупроводниковых устройств на всей пластине. Или интерактивное управление зондовой станцией для тестирования отдельных устройств. Мониторинг процесса тестирования с получением результатов для отдельного устройства и статистики для нескольких устройств во время работы.

-
Конфигурация и цена
Описание

Базовая версия ПО ACS Basic Edition в основном предназначена для тестирования полупроводниковых компонентов с использованием ручной измерительной станции или тестовой оснастки. Выполните начальное определение характеристик устройства быстро и интерактивно в режиме «Trace Mode» (режим характериографа). Или создайте тесты для полной экстракции параметров устройства, используя экран настройки на базе графического пользовательского интерфейса и обширных библиотек измерений.

Описание

ACS поддерживает широкий диапазон полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций для измерений характеристик полупроводниковых устройств на всей пластине. Или интерактивное управление зондовой станцией для тестирования отдельных устройств. Мониторинг процесса тестирования с получением результатов для отдельного устройства и статистики для нескольких устройств во время работы.

Что такое ACS?

ACS — это мощное программное обеспечение, предназначенное для инженеров, выполняющих различные испытания для всесторонней характеризации полупроводниковых устройств. Используйте ACS с широким ассортиментом ведущих в отрасли источников-измерителей компании Keithley. Автоматизация тестирования на уровне пластины или кассеты с возможностью управления автоматическими зондовыми станциями при помощи стандартной версии ACS. Для ручного тестирования или проверки одного устройства используется базовая версия ПО ACS Basic Edition. Для расширенного тестирования надежности нескольких проверяемых устройств на уровне пластины (WLR) используется стандартная версия ACS с опцией ACS-2600-RTM.  Узнать больше о различных областях применения, оборудовании для измерений и возможностях ACS!

Определение параметров компонентов

Создание и управление всесторонними испытаниями и результатами измерений для отдельных полупроводниковых компонентов, таких как полевые МОП-транзисторы, биполярные транзисторы, диоды, биполярные транзисторы с изолированным затвором высокой мощности и т. п. См. ниже описание возможностей измерений, обеспечиваемых оборудованием Keithley.

Щелкните по «возможности измерения» слева, чтобы просмотреть его описание

Программное обеспечение ACS
Thumbnail

ACS поддерживает широкий диапазон полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций для измерений характеристик полупроводниковых компонентов на всей пластине. Или интерактивное управление зондовой станцией для тестирования отдельных устройств. Мониторинг процесса тестирования с получением результатов для отдельного устройства и статистики для нескольких устройств во время работы.

Базовое программное обеспечение ACS Basic Edition

Thumbnail

Базовая версия ПО ACS Basic Edition в основном предназначена для тестирования полупроводниковых компонентов с использованием ручной измерительной станции или тестовой оснастки. Выполните начальное определение характеристик устройства быстро и интерактивно в режиме «Trace Mode» (режим характериографа). Или создайте тесты для полной экстракции параметров устройства, используя экран настройки на базе графического пользовательского интерфейса и обширных библиотек измерений. Базовая версия ПО ACS Basic обеспечивает получение результатов в реальном времени для анализа при помощи встроенных инструментов или для экспорта в другие автономные модули анализа.

Системные источники-измерители (SMU) SourceMeter ® серии 2600B
Thumbnail

Источники-измерители SourceMeter серии 2600B включают двухканальные блоки, наилучшим образом подходящие для тестирования полупроводниковых устройств с несколькими выводами, таких как полевые МОП-транзисторы и биполярные транзисторы. Интерфейс TSP-Link® компании Keithley обеспечивает согласованное управление и точную синхронизацию нескольких источников-измерителей. Широкий ассортимент моделей серии 2600 позволяет обеспечить соответствие различным требованиям к напряжению и току. Щелкните здесь , чтобы получить подробную информацию.

Системные источники-измерители (SMU) SourceMeter высокой мощности серии 2650A
Thumbnail

Источники-измерители (SMU) SourceMeter высокой мощности серии 2650A могут быть использованы в различных тестовых конфигурациях. Генерация и измерение импульсных сигналов 3 кВ или 50 А мощностью до 2 000 Вт или 200 Вт постоянного тока. Лучшие в своем классе характеристики обеспечивают непревзойденные возможности по измерению токов утечек. Использование интерфейса TSP-Link® компании Keithley для создания интегрированных систем из источников-измерителей SourceMeter (SMU) серии 2600B малой мощности. Щелкните здесь , чтобы получить подробную информацию.

Конфигурации PCT

Thumbnail

Конфигурации характериографов компании Keithley — это комплексные решения для характеризации мощных устройств, включающие высокопроизводительные приборы, кабели, тестовую оснастку и программное обеспечение. Существует шесть конфигураций, в каждой из которых имеется режим отслеживания в реальном времени для быстрой проверки основных параметров устройства, таких как напряжение пробоя, и полный параметрический режим для получения точных характеристик устройства.

Параметрический анализатор 4200-SCS
Thumbnail

Использование источника-измерителя 200 В / 1 А и модуля измерений вольт-фарадных характеристик 400 В, имеющихся в параметрическом анализаторе 4200-SCS, — это идеальный способ определения характеристик полупроводниковых компонентов. Использование 4200-SCS совместно с источником-измерителем высокой мощности серии 2650A для тестирования устройств до 3 кВ или 50 А. Создание и проведение испытаний во всем этом диапазоне возможностей приборов Keithley при помощи базовой версии ПО ACS Basic Edition. Щелкните здесь , чтобы получить подробную информацию.

Комплексные параметрические тестеры S500
Thumbnail

Откройте готовые, полные решения Keithley на базе систем параметрического тестирования S500. Эти конфигурируемые системы обеспечивают широкий диапазон возможностей измерений для испытательных установок с использованием современных технологий. Используйте ПО ACS с системами S500 для обеспечения высокопроизводительного тестирования нескольких устройств при помощи автоматических зондовых станций для проверки устройств на уровне пластины. Щелкните здесь , чтобы получить подробную информацию.

 

Технические характеристикиПринадлежностьОписание
ACS-2600-RTM ОПЦИЯ ПРОГРАММНОГО ПАКЕТА ACS ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА НАДЕЖНОСТЬ
ACS-2600 RTM User's Manual
ACS-2600 RTM USERS MANUAL
Номер по каталогу: ACS2600RTM-900-01B
Основной потребитель
ACS Automated Characterization Suite Software

Номер по каталогу: 1KW-61545-0
Техническая спецификация
ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices

Номер по каталогу: 1KW-2996-2
Техническая спецификация
ACS Quick Start Guide
ACS Software version 5.2.1 Quick Start Guide
Номер по каталогу: ACS-903-01DD
Primary User
ACS-2600 RTM User's Manual
ACS-2600 RTM USERS MANUAL
Номер по каталогу: ACS2600RTM-900-01B
Primary User
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
with Automated Characterization Suite (ACS) Software
Application Note 09 Nov 2018
ACS SOFTWARE VERSION 5.2.1 RELEASE NOTES
ACS Software version 5.2.1 Release Notes
Номер по каталогу: PA-1008K
User
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
Application Note 08 Aug 2017
Cost Effective Semiconductor Lab Automation
Technical Article 08 Aug 2017
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
Whitepaper 08 Aug 2017
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
Brochure 30 May 2017
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
Application Note 05 Feb 2017
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Increasing time to market and cost of test pressures means that test engineers must do more with less. Leveraging Keithley’s proven instrumentation and measurements, ACS integrated test systems fill an important gap between interactive laboratory-based…
Application Note 08 Aug 2016
Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top