Загрузить
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Энергоэффективность

Чтобы обеспечить требуемые характеристики устройств, необходимо безопасное тестирование с высокой скоростью и точностью полевых МОП-транзисторов на основе Si, SiC и GaN в лабораторных условиях, а также на уровне пластины. В следующих материалах описываются проблемы тестирования, возникающие при включении в разработку силовых устройств на основе SiC и GaN, а также способы решения таких проблем. Узнайте, как свести к минимуму потери энергии и довести до максимума время работы от аккумуляторной батареи разрабатываемых устройств. Сократите время вывода на рынок новых разработок.

icon_pwr-semiconductor

Определение характеристик мощных полупроводников устройств

  • Безопасное высокоскоростное, высокоточное тестирование полевых МОП-транзисторов на основе Si, SiC и GaN
  • Увеличенная огибающая мощности
  • Безопасная настройка тестирования
  • Вдвое более быстрая характеристика приборов для ускорения их выхода на рынок
  • Исключение дорогостоящего резервирования при проектировании широкозонных устройств
icon_auto-parametric-test

Автоматическое параметрическое тестирование

  • Полностью автоматическое тестирование высоким напряжением на уровне пластины
  • Переход от тестирования высоким напряжением до тестирования низким напряжением, не меняя настройки
  • Измерение ёмкости без повторного переключения контактов вручную, быстрая автоматизация
icon_pwr-conv-design

SiC and GaN Power Conversion

  • Устранение проблем с высоким напряжением синфазного сигнала
  • Одновременное измерение нескольких управляющих и синхросигналов
  • Ускорение автоматических измерений характеристик систем питания
  • Не пропускайте тестирование на соответствие
icon_max-battery-life

Достижение максимального времени работы от аккумуляторов для устройств класса «Интернет вещей» (IoT)

  • определить профиль тока нагрузки;
  • эмулировать любой аккумулятор.
  • Эмуляция любого типа батареи

Анализ схем управления

  • Система на базе осциллографа для определения характеристик тестируемых устройств
  • Характеристики пробников, используемых для измерений в схемах управления
  • Измерение запасов устойчивости по графикам Боде
  • Система анализа схем управления

Измерение и анализ источников питания

  • Измерение и анализ коммутационных потерь
  • Измерения характеристик встроенных индукторов и трансформаторов
  • Измерения характеристик коммутационных устройств на основе GaN и SiC
  • Область устойчивой работы (SOA)
  • Определение коэффициента подавления нестабильности питания
  • Характеристики цепей управления

Анализ целостности сигналов питания в схемах распределения электропитания

  • Измерение высокочастотных пульсаций без исключения постоянной составляющей сигнала
  • Анализ напряжений питания от 1 В до 48 В и выше
  • Сведение к минимуму влияния шума измерительной системы
  • Измерение импеданса в схемах распределения электропитания
  • Поиск источников помех при помощи одновременного анализа сигналов и спектра
  • Автоматические измерения параметров шин питания

Measurements on 3-Phase Variable Frequency Drives

  • Perform stable measurements on PWM 3-phase motor drives
  • Oscilloscope-based phasor diagrams
  • Measure system efficiency
  • DC bus measurements
  • Support for 2V2I, 3V3I star and delta configuration, as well as DC-in/3-phase out.

Тенденции в секторе энергоэффективности

Инженеры компании высказывают своё мнение о том, почему самым критически важным фактором разработки становится энергоэффективность.

«В этом году мы наблюдали переломный момент в технологиях на основе карбида кремния, которые обеспечили создание множества промышленных устройств».

Пат Хенсли, Tektronix

Подробнее