Загрузить
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Эффективная проверка и отладка
интерфейсов памяти DDR5

Технологии производства памяти стремительно развиваются — готовы ли к этому измерительные приборы?

Стандарт связи 5G быстро развивается и стимулирует появление ряда удивительных технологий — от дополненной реальности и искусственного интеллекта до облачных вычислений и Интернета вещей. Все эти данные нужно где-то хранить и получать к ним доступ быстрее, чем раньше; а это означает существенный рост важности и востребованности технологии DDR5. Устройства DDR5 имеют более высокую пропускную способность, плотность и эффективность использования каналов. Однако повышение скоростей сигналов и передачи данных приводит к усложнению конструкций и ухудшению целостности сигналов, а также к необходимости более точных и сложных измерений при тестировании на соответствие стандартам, отладке и проверке.

Решение Tektronix TekExpress для тестирования передатчиков DDR5 — это приложение для автоматического тестирования на уровне системы, позволяющее быстро, эффективно и надёжно проводить проверку и отладку устройств DDR5 с выполнением более 50 измерений электрических и временных параметров, требуемых JEDEC.

Анализ DFE

Наилучшие средства для отладки модулей DDR3/4 неэффективны, когда требуется тестирование устройств DDR5 в присутствии межсимвольных помех (ISI). Предлагаемое Tektronix системное программное обеспечение для устройств DDR5 включает ряд инструментов для автоматического тестирования, которые устраняют проблемы, возникающие при работе с DDR следующего поколения. К таким инструментам относятся:

  • Поддержка компенсации с решающей обратной связью (DFE) на стороне приёмника при измерениях глазковых диаграмм сигналов записи пакетных данных DDR5
  • Автоматические измерения более 50 электрических и временных параметров DDR5, указанных в стандартах JEDEC
  • Новые алгоритмы для стабильного и надёжного разделения пакетов чтения и записи
  • Новая архитектура приложения для тестирования соответствия с повышением уровня автоматизации, чтобы сократить время тестирования и ускорить вывод новых устройств на рынок
DDR5 DFE Analysis
DDR5 Debug

Отладка и проверка устройств

Решение TekExpress для тестирования передатчиков DDR5 обеспечивает контроль устройств в необходимых точках с участием пользователя. Устройства DDR5 можно тестировать на соответствие требованиям стандарта JEDEC в режиме пользовательской регистрации данных, когда пользователь устанавливает на осциллографе ряд собственных настроек, в том числе частоту дискретизации, длину записи и полосу пропускания.

Автономное приложение для использования компенсации DFE при тестировании устройств DDR5 позволяет полностью контролировать коэффициент усиления эквалайзера DFE и 4 корректирующих коэффициента. При таких условиях можно выполнять собственные внутренние программы тестирования — не определённые и не контролируемые JEDEC. Кроме того, можно имитировать корреляцию измерений для тонкой подстройки эмуляционных моделей, а также анализировать устройства по методу «что, если» (what-if), меняя значения коэффициента усиления и 4 корректирующих коэффициентов.

SDLA

Часто основной проблемой при деэмбеддинге устройств DDR5 является проверка S-параметров. Технология анализа каналов последовательных данных (SDLA), включающая усовершенствованную проверку пассивности, назначение портов и возможность построения графиков, не только ускоряет проверку файла S-параметров, но и экономит время, а также повышает универсальность системы тестирования и достоверность процесса деэмбеддинга. Для получения результатов при работе с другими программными модулями отладки необходимо завершение всего техпроцесса. Решение TekExpress для тестирования передатчиков DDR5 помогает обнаруживать проблемы на самых ранних этапах, что способствует повышению эффективности отладки и оптимизации устройств. Функции SDLA также могут быть полезными при анализе DFE.

Чтобы узнать подробнее, ознакомьтесь с руководством по применению SDLA здесь.

SDLA Analysis