Свяжитесь с нами

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00, тихоокеанское поясное время.

Звонок

Позвоните нам

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Программное обеспечение Keithley Automated Characterization Suite (ACS)

Пакет программного обеспечения Keithley для автоматического определения характеристик устройств (ACS) — это гибкая, интерактивная программная среда для тестирования, разработанная для определения характеристик, параметрического тестирования, проверки надёжности и даже базового функционального тестирования устройств. ПО ACS поддерживает широкий спектр приборов и систем Keithley, конфигураций оборудования и настроек тестирования — от набора настольных приборов в лаборатории контроля качества до полностью интегрированных и автоматизированных стоечных испытательных систем. Пакет ACS обеспечивает быструю подготовку и выполнение тестов без специальных знаний в области программирования.

 

Загрузите бесплатную пробную версию программного обеспечения

keithley-logo

 

Использование гибкости системы и пользовательских программ для определения характеристик разных устройств

В ПО ACS встроен редактор сценариев (Script Editor), представляющий собой независимое приложение с графическим интерфейсом пользователя, предназначенное для создания кода Python и сценариев TSP® для управления приборами, анализа данных и автоматизации системы. Интуитивно понятные меню приложения позволяют разрабатывать структуру ГИП и управлять пользовательскими библиотеками и модулями.

Автоматизация сбора данных

Добавляемая в ACS опция автоматизации проверки устройств на уровне пластины зондовыми станциями позволяет легко подключать широко применяемые полуавтоматические или полностью автоматические зондовые станции к системе тестирования для быстрого сбора больших объемов данных. Опция включает в себя программу описания пластин, создания карт пластин в режиме реальном времени с возможностями сортировки, программу плана тестирования кассет, а также программу заключительного контроля кассет и пластин после тестирования. Встроенные в ACS инструменты и функции значительно ускоряют процессы автоматического определения характеристик устройств.

Обмен программами и результатами тестирования

В ПО ACS включён стандартный набор ключевых элементов, которые поддерживают самые разные конфигурации оборудования, обеспечивая экономию времени и повышение производительности тестирования. Системы работают поочерёдно с каждой схемой оборудования, поэтому, например, данные системы на базе ACS, полученные при определении характеристики компонента одного устройства, можно легко передать в другую систему, используемую для тестирования на уровне пластины.

Максимально эффективное использование оборудования Keithley

Встроенные в ACS программные средства упрощают разработку тестов и оптимизируют скорость работы каждого прибора Keithley, подключённого к системе. Система ACS в сочетании с приборами Keithley на базе TSP обеспечивает самую высокую в отрасли производительность, что позволяет снизить стоимость тестирования и исключить затраты времени на изучение новых подходов или языков программирования для получения данных, необходимых для выполнения поставленных задач.

Поддерживаемые приборы

Тип прибора Модель Пакет ACS
Приборы серии SMU Серия 2600B: 2601B, 2602B, 2604B, 2611B, 2612B, 2614B, 2634B ,2635B, 2636B
Серия 2600A: 2601A, 2602A ,2611A, 2612A, 2635A, 2636A
Серия 2400 графических приборов с сенсорным экраном: 2450, 2460, 2460-NFP, 2460-NFP-RACK, 2460-RACK, 2461, 2461-SYS, 2470
Серия 2400 стандартных приборов: 2401, 2410, 2420, 2430, 2440
Прибор высокой плотности 2606B: 2606B
Серия 2650 для устройств высокой мощности: 2651A, 2657A
ACS базовый
ACS стандарт
Параметрические анализаторы 4200A ACS базовый
ACS стандарт
Цифровые мультиметры DMM7510, серия 2010 ACS базовый
ACS стандарт
Матричные коммутаторы HVM1212A ACS базовый
ACS стандарт
Системы коммутации 707A/B, 708A/B, 3700A ACS базовый
ACS стандарт
Генераторы импульсов Серия 3400 ACS базовый
ACS стандарт
Пробники TEL P8/P12, TEL T78S/80S, ACCRETECH (Tokyo Seimitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90, MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000, FormFactor (Cascade) Summit 12000, FormFactor (Cascade) S300, Suss MicroTec PA200/Cascade CM300, Electroglas EG2X/EG4X, Wentworth Pegasus 300S, Signatone CM500, Yang Sagi3, Micromanipulator P300A ACS стандарт

Прим.:

  1. Интерактивный испытательный модуль (ITM) поддерживает модели 24xx уровня TTI, приборы 26xx и варианты совместного использования этих приборов.
  2. Управление любым прибором с TSP можно осуществлять при помощи скрипта STM. Существующие библиотеки ACS STM поддерживают отдельные приборы в зависимости от определения библиотеки.
  3. Управление любым прибором можно осуществлять при помощи скрипта PTM. Существующие библиотеки ACS PTM поддерживают отдельные приборы в зависимости от определения библиотеки.

Предлагаемое ПО Tektronix

Модель Product Описание Тип Прайс-лист
ACS-BASICFL-UP ACS Basic Edition Годовая лицензия на обслуживание для продления поддержки бессрочной плавающей лицензии Подписка US $450
Конфигурация и ценовое предложение
ACS-STANDARDFL-UP ACS Standard Edition Годовая лицензия на обслуживание для продления поддержки бессрочной плавающей лицензии Подписка US $2,700
Конфигурация и ценовое предложение
ACS-BASICFL ACS Basic Edition ПО ACS Basic Edition для управления приборами; бессрочная плавающая лицензия Бессрочная US $2,900
Конфигурация и ценовое предложение
ACS-WLRFL-UP ACS Wafer Level Reliability Edition Годовая лицензия на обслуживание для продления поддержки бессрочной плавающей лицензии Подписка US $4,400
Конфигурация и ценовое предложение
ACS-STANDARDFL ACS Standard Edition ПО ACS Standard Edition для управления приборами; бессрочная плавающая лицензия Бессрочная US $18,000
Конфигурация и ценовое предложение
ACS-WLRFL ACS Wafer Level Reliability Edition ПО ACS Wafer Level Reliability; бессрочная плавающая лицензия Бессрочная US $29,000
Конфигурация и ценовое предложение

Области применения: от разработки до производства

Интегрированные системы тестирования на основе ПО ACS — это комплексные решения для таких областей применения, как сортировка кристаллов по параметрам, определение характеристик мощных полупроводниковых элементов и проверка надёжности на уровне пластин. При работе с соответствующими полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями, конфигурации оборудования и программы тестирования этих систем могут быть легко оптимизированы для конкретных задач.

Руководство по применению «Испытания силовых полупроводниковых устройств при помощи системных источников-измерителей (SMU) высокой мощности от Keithley и программного обеспечения ACS Basic Edition»

Руководство по применению «Интегрированная система тестирования ACS для параллельного многоточечного тестирования»

Последовательная подача напряжений питания для определения ВАХ GaN транзисторов ТВПЭ

GaN транзисторы с высокой подвижностью электронов (ТВПЭ) работают в нормально открытом режиме, поэтому для тестирования ВАХ транзисторов требуется специальная последовательность подачи напряжений питания. Программное обеспечение ACS поддерживает последовательную подачу напряжений питания для определения характеристик тестируемого GaN ТВПЭ без повреждения элемента, с получением его собственной ВАХ.

Последовательная подача напряжений питания для определения характеристик GaN транзисторов ТВПЭ Руководство по применению

Тестирование на разных этапах производства полупроводниковых приборов

Оба пакета программного обеспечения — ACS Basic и ACS Standard Editions — используются в техпроцессах изготовления полупроводниковых приборов при тестировании разных параметров для всесторонней характеризации полупроводниковых устройств. Интегрированные системы тестирования ACS Basic и ACS обеспечивают:

  • Тестирование на уровне устройства, пластины и кассеты
  • Гибкую конфигурацию, адаптируемое под требования пользователя программное обеспечение и приложения
  • Интерактивное и автоматизированное функционирование системы
  • Мощное сочетание ГИП и программируемых сценариев для разработки модулей тестирования
Serving Applications Across the Semiconductor Workflow

Этап разработки

Программное обеспечение ACS Basic Edition оптимизировано для параметрического тестирования компонентов и отдельных (корпусных) полупроводниковых приборов. При помощи этого ПО можно существенно повысить производительность труда инженерно-технических специалистов, занятых в исследованиях и разработках, за счет следующих основных функций:

  • Возможность тестирования корпусных элементов (МОП-транзисторов, биполярных плоскостных транзисторов, БТИЗ, диодов, резисторов и т. п.)
  • Большой набор библиотек тестов для быстрой и простой настройки и выполнения тестов без программирования
  • Встроенные инструменты анализа данных для быстрого анализа параметрических данных
  • Поддержка источников-измерителей (SMU) Keithley серии 2600B (кроме 2604B, 2614B и 2634B), а также серии 2400, 2651A и 2657A

Этап интеграции

Программное обеспечение ACS Standard Edition используется на этапе интеграции для полуавтоматического тестирования пластин, в том числе разработки надёжных процессов тестирования и оценки надёжности на уровне пластин (WLR). При помощи ПО можно тестировать каждый вывод компонента отдельным каналом источника-измерителя на уровне системы. Преимущества ПО ACS WLR:

  • Полная автоматизация функций для тестирования отдельных пластин или всей кассеты
  • Программное обеспечение для гибкой настройки тестов и параллельного тестирования
  • Модуль тестирования надёжности (RTM) соответствует стандартным методикам JEDEC для тестирования
  • Поддержка создания пользовательских модулей/процедур тестирования

Этап производства

Программное обеспечение ACS Standard Edition используется в адаптируемых под требования пользователя полностью интегрированных и автоматизированных стоечных испытательных системах для мониторинга управления процессами (PCM), приёмочных испытаний пластин (WAT) и сортировки матриц. Встроенные в ПО ACS Standard инструменты и функции значительно ускоряют процессы автоматического определения характеристик устройств:

  • Автоматизация тестирования на уровне пластин и кассет
  • Тестирования соответствия исходной карты карте устройства, а также тестирование участков и мини-участков
  • Интерактивный режим управления зондовой станцией
  • Создание единого файла данных Keithley или по каждой пластине