Свяжитесь с нами

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00, тихоокеанское поясное время.

Звонок

Позвоните нам

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Система параметрического тестирования Keithley

Для разработки и производства современных аналоговых и силовых полупроводниковых приборов, включая приборы на основе GaN и SiC, требуется параметрическое тестирование, которое существенно повышает производительность измерений, поддерживает широкий спектр тестируемых устройств и сводит к минимуму стоимость тестирования. Компания Keithley уже больше 40 лет успешно решает эти и другие важные задачи в таких критически важных секторах, как интеграция процессов, мониторинг систем управления процессами, сортировка кристаллов на производственных линиях (например, приёмочные испытания пластин или тестирование с использованием эталонных кристаллов), а также надёжность устройств.

Системы параметрического тестирования Keithley серии S530 с программным обеспечением KTE 7 позволяют применять чрезвычайно гибкие высокоскоростные конфигурации, которые можно наращивать по мере появления новых областей применения и изменения требований. Система S530 обеспечивает тестирование устройств напряжением до 200В, а S530-HV — напряжением до 1100 В на любом выводе с повышением производительности тестирования до 50 % по сравнению с аналогичными системами других компаний. Новым решением для KTE 7 является дополнительный модуль Testhead, обеспечивающий непосредственное соединение с зондовой станцией и использование ранее применяемых зондовых плат; калибровку на уровне системы по выводам, которая соответствует требованиям ISO-17025 и поддерживает требования автомобильного стандарта IATF-16949; а также самый простой и плавный метод перехода с устаревших систем S600 и S400 с полной корреляцией данных и повышением скорости.

Система параметрического тестирования 540 — это полностью автоматизированная система с 48 контактами для тестирования силовых полупроводниковых устройств и структур на уровне пластины напряжением до 3 кВ. Оптимизированная для использования с современными материалами на основе полупроводниковых соединений, включая карбид кремния (SiC) и нитрид галлия (GaN), полностью интегрированная система S540 позволяет выполнять все высоковольтные, низковольтные измерения, а также измерения ёмкости в одно касание пробника.

Интегрированные системы тестирования S500 — это конфигурируемые системы приборов, предназначенные для определения характеристик полупроводников на уровне устройства, пластины или кассеты. Разработанные на основе проверенного оборудования, интегрированные системы тестирования S500 обеспечивают новаторские возможности измерений и гибкость системы, масштабируемой в соответствии с задачами заказчика. Уникальные возможности измерений и мощное программное обеспечение Automated Characterization Suite (ACS) обеспечивают широчайший диапазон применения и возможностей, недостижимый для других аналогичных систем на рынке. 

 

keithley-logo

 

Система параметрического тестирования Keithley

Характеристики S530

  • Большой выбор опций интерфейса для зондовой станции, включая модуль Testhead; поддержка ранее используемых систем Keithley, а также систем Keysight
  • Стандартизованная в промышленности программная среда KTE
  • Тестирование всех высоковольтных и низковольтных параметров за одно касание пробника
  • Полностью автоматическая калибровка на уровне системы, выполняемая при помощи нового модуля коммутации эталонов (SRU), соответствует самым современным стандартам качества
  • Программные инструменты HealthCheck, входящие в состав ПО KTE 7, значительно повышают время работы системы и целостность данных
  • Встроенная защита от переходного перенапряжения и перегрузок по току сокращает до минимума дорогостоящие простои системы и повреждения пластин
  • Соответствует требованиям по калибровке ISO-17025 и поддерживает требования стандарта IATF-16949
  • Обеспечивает поддержку интерфейса SECS/GEM при работе с пластинами диаметром 300 мм

Характеристики S540

  • Автоматическое проведение всех параметрических тестов на уровне пластины с использованием до 48 контактов, в том числе измерений высокого напряжения пробоя, емкости и низковольтных измерений в одно касание пробника без замены кабелей или инфраструктуры зондовой платы
  • Проведение измерений емкости транзистора (Ciss, Coss и Crss) до 3 кВ без изменения конфигурации контрольных контактов вручную
  • Обеспечение эффективности измерений низкого уровня в высокоскоростной, многоконтактной, полностью автоматизированной тестовой среде
  • Системное программное обеспечение Keithley Test Environment (KTE) на базе Linux обеспечивает удобную разработку тестов и быструю их реализацию
  • Идеально подходит для полностью или наполовину автоматизированных приложений, применяемых в интеграции процессов, мониторинге технологических процессов и промышленной сортировке кристаллов
  • Снижение стоимости владения за счет минимизации времени тестирования, времени настройки для испытания и занимаемой площади при обеспечении производительности измерений лабораторного класса

Характеристики S500

  • Технические характеристики полнофункционального источника-измерителя (SMU), включая измерения в субфемтоамперном диапазоне, обеспечивают широкий диапазон измерений почти на любом устройстве.
  • Генерация импульсов и измерение вольт-амперных характеристик в импульсном режиме для тестирования памяти, накачки заряда, анализа количества ловушек заряда, предотвращения саморазогрева (импульсный режим со свипированием).
  • Мало- или многоканальные системы, включая параллельное тестирование, с масштабируемыми системными источниками-измерителями Keithley.
  • Высоковольтные, сильноточные и высокомощные источники-измерители для тестирования таких устройств, как мощные полевые МОП-транзисторы и устройства управления дисплеем.
  • Коммутаторы, платы пробников и кабели обеспечивают полное подключение системы к проверяемому устройству.