Конфигурации Keithley для измерений сверхнизких сопротивлений

Конфигурации Keithley для измерений сверхнизких сопротивлений

При подключении модели 2182A к 6220 или 6221 приборы могут работать как один. Комбинация 2182A/622X идеально подходит для измерения сопротивления, измерения вольт-амперных характеристик в импульсном режиме, дифференциальных измерений проводимости, обеспечивая значительные преимущества по сравнению с другими решениями. Комбинация 2182A/622X также хорошо подходит для многих нанотехнологий, так как обеспечивает измерение сопротивления без значительного рассеяния мощности в проверяемом устройстве, которое может привести к получению недостоверных результатов или даже к разрушению этого устройства.

Thumbnail

Диапазон базисных цен
-
Купить/Запросить цену Questions? Chat Now
Конфигурации для измерения сверхнизкого сопротивления Keithley серии 6200/2182A

Характеристики

Достоинства

Измерение сопротивлений от 10 нОм до 100 МОм Охват чрезвычайно широкого диапазона измерений, специализация на измерениях сверхнизких сопротивлений для характеризации материалов высокой проводимости, наноматериалов и сверхпроводящих материалов.
Синхронизация импульсного источника тока и времени измерений до 50 мкс Ограничение рассеивающей мощности в компонентах, таких как наноустройства и наноматериалы, которые могут быть легко выведены из строя, если испытания не проводить при очень низких уровнях мощности.
Методика измерений реверсирования тока, сопротивления в дельта-системе Точные измерения сверхнизких сопротивлений благодаря устранению эффектов тепловых смещений и снижению уровня шума до 30 нВпик (типовое значения) для одного показания. Для увеличения уровня подавления шума может проводиться осреднение нескольких показаний.
Дифференциальное измерение проводимости Увеличение скорости в десять раз и более значительное снижение шума по сравнению с другими методами измерения проводимости. Надежные измерения проводятся без осреднения результатов нескольких разверток.
Безупречное сочетание нановольтметра и источника тока для совместного использования Оба прибора могут использоваться как один инструмент при проведении дифференциальных измерений проводимости и сопротивления.
В режимах соединения треугольником, дифференциальных измерений проводимости и импульсном режиме генерируются минимальные нестационарные токи Возможность характеризации приборов, которые могут быть легко разрушены при возникновении выбросов токов.


Модели

Модель Ток Напряжение Сопротивление Тестирование источника Интерфейс ПК Прайс-лист
6220/2182A

От 1 нВ до 100 В
От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

Пост. ток: ±10 фА—100 мА RS-232, GPIB
-

Конфигурация и цена

6221/2182A

От 1 нВ до 100 В
От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

Пост. ток: от ±10 фА до 100 мА

Перем. ток: от 4 пАпик-пик до 200 мАпик-пик

RS-232, GPIB, LAN
-

Конфигурация и цена

Прайс-лист
-

ТокНапряжениеСопротивление
От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

НапряжениеТестирование источникаИнтерфейс ПК
От 1 нВ до 100 ВПост. ток: ±10 фА—100 мАRS-232, GPIB
Прайс-лист
-

ТокНапряжениеСопротивление
От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

НапряжениеТестирование источникаИнтерфейс ПК
От 1 нВ до 100 В

Пост. ток: от ±10 фА до 100 мА

Перем. ток: от 4 пАпик-пик до 200 мАпик-пик

RS-232, GPIB, LAN

Модель Ток Напряжение Сопротивление Тестирование источника Интерфейс ПК Прайс-лист
6220/2182A От 1 нВ до 100 В От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

Пост. ток: ±10 фА—100 мА RS-232, GPIB
-
Конфигурация и цена
6221/2182A От 1 нВ до 100 В От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

Пост. ток: от ±10 фА до 100 мА
Перем. ток: от 4 пАпик-пик до 200 мАпик-пик

RS-232, GPIB, LAN
-
Конфигурация и цена
ТокНапряжениеСопротивление
От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

НапряжениеТестирование источникаИнтерфейс ПК
От 1 нВ до 100 ВПост. ток: ±10 фА—100 мАRS-232, GPIB
ТокНапряжениеСопротивление
От 1 нВ до 100 В

От 1 нОм до 100 МОм

НапряжениеТестирование источникаИнтерфейс ПК
От 1 нВ до 100 В

Пост. ток: от ±10 фА до 100 мА
Перем. ток: от 4 пАпик-пик до 200 мАпик-пик

RS-232, GPIB, LAN
Технические характеристикиПринадлежностьОписание
7009-5 5 ФУТОВ ЭКРАНИРОВАННЫЙ КАБЕЛЬ RS-232
Characterization of New Materials and Devices Nanotechnology, Printed and Bio Electronics, and Energy
0h 34m 2s
Hall Effect Measurements in Materials Characterization
Техническая документация 12 Mar 2016
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition
Precision DC Current, Voltage, and Resistance Measurements
Номер по каталогу: 1KW-1559-0
Handbook 17 Apr 2019
Model 6517B Voltage/Current Measurement Example (LabView)
This LabView VI allows you to choose: Function (Voltage or Current), NPLC, Counts, Range, Resolution Digits and Buffer Delay Time. The Program outputs the reading buffer data, standard deviation and RMS value. The data will also be saved to a file. This…
Часто задаваемые вопросы ID: 774036 05 Apr 2019
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data…
Technical Article 11 Nov 2018
Keithley Instruments Safety Precautions Safety Precautions PA
This document contains safety information for Keithley Instruments products.
Номер по каталогу: 071341102
User
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Номер по каталогу: 1KW-60158-1
Application Note 09 Nov 2018
Model 2182A Nanovoltmeter
Техническая спецификация
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
Thermoelectric voltages are the most common cause of reading drift in low resistance measurements. They are caused by differences in temperature between different parts of the measurement circuit
Technical Article 08 Aug 2017
An Improved Method for Differential Conductance Measurements
Keithley's approach to differential conductance, a four-wire, source current/measure voltage technique, uses the 6220 and 6221 Current Sources and 2182A Nanovoltmeter.  The current sources combine the DC and AC components into one source, with no need to…
Whitepaper 08 Aug 2017
Unraveling Fuel Cell Electrical Measurements
Anyone involved in the design, manufacture, application. or repair of fuel cells or fuel cell-powered devices needs cell data that is available only through direct electrical measurements. When properly interpreted, this data not only provides an…
Technical Article 08 Aug 2017
Achieving Accurate and Reliable Resistance Measurements in Low Power and Low Voltage Applications
There are many factors that make low voltage measurements difficult.  This paper discusses techniques to eliminate thermoelectric voltages to allow more accurate resistance measurements, including a three-step delta measurement method for low power/low…
Whitepaper 08 Aug 2017
Low-Voltage Measurement Techniques
This article discusses techniques to eliminate thermoelectric voltages to allow more accurate resistance measurements, including a three-step delta measurement method for low-power/low-voltage applications. In addition, it also presents a method for…
Technical Article 08 Aug 2017
New Instruments Can Lock Out Lock-ins
With modern instruments like the Keithley 6220 Current Source and 2182A Nanovoltmeter, the DC reversal method requires less power while providing excellent low-noise results. This combination is optimal for low frequencies (0.1–24Hz,) allowing…
Whitepaper 08 Aug 2017
#2615 Determining Resistivity and Conductivity Type using a Four-Point Collinear Probe and the Model 6221 Current Source
This application note explains how to measure resistivity and determine conductivity type of semiconductor materials with a four-point collinear probe and the 6221 DC and AC Current Source.
Application Note 08 Aug 2017
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
Nanotechnology is an important new area of research that promises significant advances in electronics, materials, biotechnology, alternative energy sources, and dozens of other applications.  The ability to create accurate and repeatable measurements at…
Technical Article 08 Aug 2017
Pulse Testing for Nanoscale Devices
Pulse testing provides a key capability for the investigation of nanomaterials, nanoelectronics, and today’s semiconducting devices.
Technical Article 08 Aug 2017
AC Versus DC Measurement Methods for Low-power Nanotech and Other Sensitive Devices
With modern current sources and nanovoltmeters, the DC reversal method requires less power while providing excellent low-noise results. This combination is optimal for low frequencies (0.1–24Hz,) allowing measurements to be made much faster than with a…
Technical Article 08 Aug 2017
Problem: Errors in Low Resistance Measurements
In low resistance measurements, the resistance of the test leads can be a significant fraction of the resistance to be measured, or can even exceed it, and can cause measurement errors.
Technical Article 08 Aug 2017
New dG Measurement Methods Reveal Nanodevice Characteristics Faster, at Lower Cost
AC current sources are now available that can quickly characterize the differential conductance of nanoscale devices, including those that exhibit negative dG. When combined with a sensitive nanovoltmeter, these two instruments eliminate the need for…
Technical Article 08 Aug 2017
Problem: Noisy Readings in Low Resistance Measurements
The most common cause of noisy low resistance measurement is magnetic interference.
Technical Article 08 Aug 2017
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

Номер по каталогу: 55W_30503_2
Brochure 23 May 2017
Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top