Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Опробуйте БЕСПЛАТНО на своём ПК .

Product-series_4200-promo-options

Диапазон измерений
ВАХ пост. тока (I-V)

от 10 аА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В

Диапазон изм. вольт-фарадной хар-ки
(C-V)

от 1 кГц до 10 МГц
± 30 В пост. тока смещение

Диапазон импульсной ВАХ
(I-V)

±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мвыб/с, период выборки 5 нс

 

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

Вид спереди модулей 4200A-SCS и 4200A-CVIV, тестирующих ВФХ

Подключение к новейшим разработкам ещё никогда не было таким простым. Параметрический анализатор 4200A-SCS существенно снижает сложность определения характеристик и вдвое сокращает длительность настройки тестирования, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому необходимо добавить интегрированный в прибор опыт измерений — впервые в отрасли в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Встроенное видеоруководство по измерениям на английском, китайском, японском и корейском языке
  • Мгновенная подготовка к тестированию при помощи сотен подстраиваемых под требования пользователя тестовых программ
  • Автоматизированное отображение параметров в режиме реального времени, графики данных, арифметические функции

Измерение. Переключение. И возврат.

Коммутационный модуль Keithley 4200A-CVIV на станции для тестирования пластин

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Стабильные измерения малых токов для определения ВАХ

Модули 4201-SMU и 4211-SMU помогают добиться высокой точности и повторяемости измерений малых токов в системе с большими ёмкостями. Выбирая требуемый модуль из четырёх разных моделей источников-измерителей (SMU), можно настроить анализатор 4200A-SCS под любые требования заказчиков к измерениям ВАХ. Кроме того, предлагая SMU с установкой в полевых условиях и дополнительные модули предусилителей, компания Keithley обеспечивает самую высокую точность измерений малых токов при незначительном простое либо вообще без простоев оборудования.

Основные преимущества

  • Добавление модуля SMU без пересылки прибора изготовителю
  • Измерения фемптоамперных токов
  • До 9 каналов SMU
  • Модули оптимизированы для работы с длинными кабелями или большими держателями испытуемых устройств

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах.

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS перед станцией для тестирования пластин

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических зондовых устройств для тестирования полупроводниковых компонентов, а также с контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

Снижение затрат и защита капиталовложений

Защита инвестиций при помощи сервисного плана Keithley Care

Планы Keithley Care обеспечивают быстрое оказание качественных услуг за часть стоимости, уплачиваемой при заказе услуги без договора. Начать ремонт можно в один клик или по телефону, нет необходимости запрашивать ценовое предложение, оформлять наряд-заказ или дожидаться согласования.

Подробнее

 

Техническое описание Модель Описание Цена
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK1
ВАХ с высоким разрешением
210 В/100 мА, разрешение 0,1 фА
Для измерения характеристик двух- и трёхвыводных устройств, полевых МОП и КМОП элементов В комплект поставки 4200A-SCS-PK1 входят:
  • Параметрический анализатор 4200A-SCS
  • 2 модуля 4200-SMU
  • 1 предусилитель 4200-PA
  • 1 тестовая оснастка с набором устройств для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK2
ВАХ и ВФХ с высоким разрешением
210 В/100 мА, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для измерения характеристик субмикронных КМОП устройств с высоким значением диэлектрической проницаемости В комплект поставки 4200A-SCS-PK2 входят:
  • Параметрический анализатор 4200A-SCS
  • 2 модуля 4200-SMU
  • 1 предусилитель 4200-PA
  • 1 модуль 4210-CVU для измерения ВФХ
  • 1 тестовая оснастка с набором устройств для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK3
ВАХ и ВФХ мощных элементов, с высоким разрешением
210 В/1 А, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для измерения характеристик мощных субмикронных КМОП устройств с высоким значением диэлектрической проницаемости В комплект поставки 4200A-SCS-PK3 входят:
  • Параметрический анализатор 4200A-SCS
  • 2 модуля 4200-SMU
  • 2 модуля 4210-SMU
  • 2 предусилителя 4200-PA
  • 1 модуль 4210-CVU для измерения ВФХ
  • 1 тестовая оснастка с набором устройств для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200-BTI-A
Сверхбыстрый измеритель темп. нестабильности при отриц./положит. смещ.
Для сложных измерений температурной нестабильности при отрицательном и положительном смещении кремниевых КМОП приборов, созданных с применением самых современных технологий В комплект поставки 4200-BTI-A входят:
  • 1 модуль 4225-PMU для измерений сверхбыстрых импульсов тока и напряжения
  • 2 модуля дистанционного предусилителя/коммутатора 4225-RPM
  • Программное обеспечение Automated Characterization Suite (ACS)
  • Модуль планов тестирования импульсных характеристик и BTI
  • Кабели
Запросить цену

Надёжность полупроводниковых приборов

Тестирование надёжности с использованием модуля 4225-PMU

Анализатор 4200A-SCS устраняет ряд сложных проблем, возникающих при комплексном тестировании надёжности. Встроенные в прибор планы тестирования, такие как оценка деградации горячих носителей (HCI) и температурной нестабильности при отрицательном смещении (NBTI), покрывают основные требования к анализу устройств. Для более крупных лабораторий предлагается комплект 4200-BTI, включающий ПО Keithley для автоматического определения характеристик (ACS) с функциями составления карт пластин и автоматического управления зондовыми устройствами.

Основные преимущества

  • Измерения ВАХ постоянного тока, ВФХ и импульсных характеристик в одном наборе тестов
  • Поддержка многих измерительных станций и внешних приборов
  • Простая в использовании система контроля циклов позволяет выполнять повторные измерения без кодирования

Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств

Измерения ВФХ МОП-конденсаторов на очень низких частотах (ОНЧ)

Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.

Основные преимущества

  • Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
  • Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ

Энергонезависимая память

Тестирование памяти последовательностью импульсов PUND при помощи модуля 4225-PMU

При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.

Тестирование при использовании длинных кабелей или оснастки с большими ёмкостями

Тестирование передаточной характеристики Iс(Vз) прибора при помощи модуля 4201-SMU

Если при тестировании необходимы длинные кабели или оснастка с большими ёмкостями, рекомендуется использование источников-измерителей 4201 или 4211-SMU. Эти источники-измерители тестирования жидкокристаллических элементов, зондовым устройствам, коммутационным матрицам, а также многим другим большим или сложным системам тестирования. Модели с возможностью установки в полевых условиях позволяют расширять возможности систем тестирования без возврата прибора в сервисный центр.

Определение характеристик наноразмерных устройств

Семейство характеристик полевых транзисторов из углеродных нанотрубок

Благодаря блочной архитектуре, анализатор 4200A-SCS может упростить требования к измерениям в быстро развивающейся наноэлектронике, в частности к тестированию углеродных нанотрубок. Исследования нужно начинать с предварительно заданного плана тестирования и на его основе расширять измерения. Импульсный режим работы источников-измерителей (SMU), решающий проблему перегрева, можно использовать для секундных измерений ВПФ при низком напряжении и сверхбыстрых импульсных ВАХ.

Удельное сопротивление материалов

Измерения удельного сопротивления при помощи коллинеарного четырёхточечного зонда, необходимые для разработки материалов

При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 10­­­­16 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.

Определение характеристик полевых МОП-транзисторов

Измерения порогового напряжения полевых МОП-транзисторов параметрическим анализатором 4200A-SCS

В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.

Техническое описание Модуль Описание Конфигурация и ценовое предложение
4200A-CVIV КОММУТАЦИОННЫЙ БЛОК ВАХ/ВФХ (CVIV) Конфигурация и ценовое предложение
4201-SMU Источник-измеритель средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями Конфигурация и ценовое предложение
4211-SMU Источник-измеритель высокой мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями Конфигурация и ценовое предложение
4201-SMU-R Источник-измеритель средней мощности с установкой в полевых условиях, предназначенный для тестирования устройств с большими ёмкостями Конфигурация и ценовое предложение
4211-SMU-R Источник-измеритель высокой мощности с установкой в полевых условиях, предназначенный для тестирования устройств с большими ёмкостями Конфигурация и ценовое предложение
4200-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и ценовое предложение
4210-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и ценовое предложение
4200-SMU-R ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СО СРЕДНЕЙ МОЩНОСТЬЮ, ЗАМЕНЯЕМЫЙ В ПОЛЕВЫХ УСЛОВИЯХ Конфигурация и ценовое предложение
4210-SMU-R ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ С ВЫСОКОЙ МОЩНОСТЬЮ, ЗАМЕНЯЕМЫЙ В ПОЛЕВЫХ УСЛОВИЯХ Конфигурация и ценовое предложение
4200-PA МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ Конфигурация и ценовое предложение
4210-CVU МОДУЛЬ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК Конфигурация и ценовое предложение
4220-PGU МОДУЛЬ ГЕНЕРАТОРА ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ ИМПУЛЬСОВ Конфигурация и ценовое предложение
4225-PMU МОДУЛЬ СВЕРХБЫСТРОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВАХ В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИМЕ Конфигурация и ценовое предложение
4225-RPM МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ/ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЯ Конфигурация и ценовое предложение
4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и ценовое предложение
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Номер публикации: 1KW-60780-5
Datasheet 22 Jan 2020
I have lost the device library on the 4200A-SCS, how to get it back?
The best way to get the library back is to re-install Clarius the their system. It’s free from our Tek.com website. Here is the link :https://www.tek.com/software/clarius/1-3
Идентификатор часто задаваемых вопросов247546 15 Jan 2020
Is there a resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS?
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek.com/document/a
Идентификатор часто задаваемых вопросов248681 15 Jan 2020
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
Идентификатор часто задаваемых вопросов249356 15 Jan 2020
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only
Идентификатор часто задаваемых вопросов255351 15 Jan 2020
What is the time required to switch between Pulse IV (4225PMU) and CV (4210ACVU) measurements using the 4225-RPM for the 4200A-SCS?
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate s
Идентификатор часто задаваемых вопросов469646 15 Jan 2020
What is included in the 4200A-SCS Windows 10 Upgrade option?
The 4200A-SCS can be upgraded from the Windows 7 operating system to Windows 10. The part number for this upgrade is 4200A-WIN10-UP. This service will provide a USB flash drive containing the upgrade program files and instructions for installing the
Идентификатор часто задаваемых вопросов780921 15 Jan 2020
Do I need to calibrate my instruments separately when I upgrade from the 4200-SCS to a 4200A-SCS mainframe?
No; when the 4200A-MF-UP service is selected, the 4200-SCS is converted to the 4200A-SCS mainframe. This system gains the Clarius software. All supported instrument modules in the original system will be moved to the new, 4200A-SCS mainframe and will
Идентификатор часто задаваемых вопросов780926 15 Jan 2020
Ultra Fast Single Pulse Technique for Channel Effective Mobility Measurement
Примечание по применению 26 Dec 2019
Safely Using the Interlock on the Keithley Model 4200-SCS
Примечание по применению 26 Dec 2019
Ultra-Fast I-V Applications for the Model 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module
Примечание по применению 26 Dec 2019
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

Номер публикации: 55W_30503_2
Брошюра 26 Dec 2019
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
Техническая статья 26 Dec 2019
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
Информационный бюллетень 26 Dec 2019
Pulsed I-V Testing for Components and Semiconductor Devices - Applications Guide
Примечание по применению 26 Dec 2019
Pulse Testing for Nanoscale Devices
Техническая статья 26 Dec 2019
Probing Transistors at the Contact Level in Integrated Circuits
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making Stable Low Current Measurements with High Test Connection Capacitance Using the 4201-SMU and 4211-SMU
This application note explains the maximum capacitance specifications of an SMU, and describes several applications on which the 4201-SMU and 4211-SMU enables you to make stable low current measurements. The example applications describe include the

Номер публикации: 1KW-61609-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making Optimal Capacitance and AC Impedance Measurements with the 4210-CVU Capacitance Voltage Unit
Capacitance-voltage (C-V) and AC impedance measurements are commonly performed on many types of devices for a wide variety of applications.  This application note describes how to make optimal capacitance measurements using proper measurement techniq

Номер публикации: 1KW-61528-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making Low Current Pulse I-V Measurements
This application note defines ultra-fast I-V, explains the fundamental limits of current measurements as a function of time and measure window, and describes the techniques for making ultra-fast I-V low current measurements.

Номер публикации: 1KW-61527-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making Three-Terminal Capacitance-Voltage Measurements Up to 400 V
This application note explains how the CISS, COSS and CRSS measurements are made using the bias tee capabilities in the 4200A-CVIV Multi-Switch. This application note also shows how the instrument DC output voltage was doubled from 200 V to 400 V for

Номер публикации: 1KW-61529-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making Charge-Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System and Series 3400 Pulse/Pattern Generator

Номер публикации: Job #2851
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS Semiconductor Characteriztion System Parametric characterization of semiconductor devices typically requires making extremely low current measurements. For MOSFET devices, the ga

Номер публикации: Application Note Number 2241
Примечание по применению 26 Dec 2019
Making I-V and C-V Measurements on Solar/Photovoltaic Cells Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
Moving from Windows XP to Windows 7? Upgrade Your Model 4200-SCS
Руководство 26 Dec 2019
Monitoring Channel Hot Carrier (CHC) Degradation of MOSFET Devices using Keithley's Model 4200-SCS

Номер публикации: Print job #2535
Примечание по применению 26 Dec 2019
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.

Номер публикации: 1KW-61388-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Measuring Inductance Using the 4200-CVU Capacitance-Voltage Unit
Примечание по применению 26 Dec 2019
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Примечание по применению 26 Dec 2019
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

Номер публикации: 1KW-60826-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Performing Charge Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
Performing Charge Pumping Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make charge pumping measurements using the 4200A-SCS with the optional 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module (PMU) or 4220-PGU Pulse Generator Unit (PGU).

Номер публикации: 1KW-60634-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the Mode 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
A Local Area Network Laboratory Based on the Keithley 4200-SCS for Engineering Education in Microelectronics
Техническая документация 26 Dec 2019
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Full color brochure covering the semiconductor characterization system, Model 4200-scs.
Брошюра 26 Dec 2019
Modifying Keithley Interlock Cable 236-ILC-3 for Use w/Cascade 12000 Series Semiautomatic Probers
Примечание по применению 26 Dec 2019
Model 4200-SCS & KTEI 5.0 Software Extend Semi Characterization to Stress-Measure, Reliability Test
Cleveland, Ohio - December 11, 2003 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) today announced availability of its Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System with its integral Keithley Test Environment-Interactive (KTEI) v5.0 software.
Информационный выпуск 26 Dec 2019
KTEI V8.2 for the Model 4200-SCS: Characterize NVM, Measure VLF C-V, Make More Pulsed or Ultra-fast I-V Measurements in Parallel
Брошюра 26 Dec 2019
Writing Prober Drivers for the Model 4200-SCS

Номер публикации: Job #2361. Updated 01/07
Примечание по применению 26 Dec 2019
Keithley Pulse Solutions
Брошюра 26 Dec 2019
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for ach

Номер публикации: 1KZ-61313-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
Брошюра 26 Dec 2019
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.

Номер публикации: 1KW-61356-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Using the Model 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
Using the Wafer Map Parameters Option with Cascade Nucleus Prober Software and the Model 4200-SCS

Номер публикации: Job number 2657.
Примечание по применению 26 Dec 2019
Improving the Measurement Speed and Overall Test Time of the Model 4200-SCS
Примечание по применению 26 Dec 2019
Gate Dielectric Capacitance-Voltage Characterization Using the Model 4200
Application Note Number 2239 Gate Dielectric Capacitance - Voltage Characterization Using the Model 4200 Semiconductor Characterization System Maintaining the quality and reliability of gate oxides is one of the most critical and challenging tasks in
Примечание по применению 26 Dec 2019
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
DC Electrical Characterization of RF Power Transistors
Примечание по применению 26 Dec 2019
E-Handbook Guide to Switch Considerations by Signal Type
Информационный бюллетень 26 Dec 2019
C-V Testing for Semiconductor Components and Devices - Applications Guide
Примечание по применению 26 Dec 2019
C-V Characterization of MOS Capacitors Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS

Номер публикации: Rev 7.15.11 ah
Примечание по применению 26 Dec 2019
Breathe New Life into Your 4200-SCS Parameter Analyzer
Информационный бюллетень 26 Dec 2019
Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.

Номер публикации: 1KW-60641-1
Примечание по применению 26 Dec 2019
Wafer Level Reliability Testing with the Keithley Model 4200A-SCS Parameter Analyzer
Evolving design scales and new materials are making wafer level reliability testing more critical than ever. This is also driving the demand for reliability testing and modeling much further upstream, especially into the R&D process. Instrumentma

Номер публикации: 1KW-61526-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Integral PC Design of Keithley Model 4200-SCS is at the Leading Edge of a New Instrumentation Trend
Техническая статья 26 Dec 2019
Optimizing Low Current Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices
Application Note # 2197 Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices With decreased MOSFET gate length, hot carrier induced degradation has become one of the most important reliability concerns.
Примечание по применению 26 Dec 2019
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
1 ns Pulsing Solutions for Non-Volatile Memory Testing
Ultra-fast (<10 ns) pulsing is required to develop the newest non-volatile memory types like Flash, PCRAM, STT-RAM and others. In addition to the recommended minimum and allowable minimum pulse widths possible using the Keithley 4225-PMU Ultra-Fas

Номер публикации: 1KW-61454-1
Краткое техническое описание 26 Dec 2019
Switching Between C-V and I-V Measurements Using the 4200A-CVIV Multi-Switch and 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60635-0
Примечание по применению 26 Dec 2019
Creating External Instruments Drivers for the Model 4200-SCS

Номер публикации: technical note #2661
Примечание по применению 26 Dec 2019
Evaluating Oxide Reliability
Application Note Number 2240 Evaluating Oxide Reliability Using V-Ramp and J-Ramp Techniques Oxide integrity is an important reliability concern, especially for today's ULSI MOSFET devices, where oxide thickness has been scaled to a few atomic layers
Примечание по применению 26 Dec 2019
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Примечание по применению 26 Dec 2019
I-V Measurements of Nanoscale Wires and Tubes with the Model 4200-SCS and Zyvex S100 Nanomanipulator

Номер публикации: Job #2481
Примечание по применению 26 Dec 2019
Model 4200A-SCS Clarius V1.6.1 Software

Номер по каталогу: 077132608
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual

Номер по каталогу: 4200A-901-01G_September_2019_Reference.pdf
Manual 26 Nov 2019
Modèle 4200A-SCS Liste d'Avertissements
Warnings from the QSGs, User's Manual and Reference Manual translated into French for the 4200A-SCS Other

Номер по каталогу: 077126000
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Clarius V1.7 Software

Номер по каталогу: 077132609
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A Parameter Analyzer User's Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-SCS User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information. User Manual

Номер по каталогу: 4200A-900-01C
Manual 26 Nov 2019
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions Instructions

Номер по каталогу: 077134300
Manual 26 Nov 2019
Keithley PreAmp Adapter Installation

Номер по каталогу: PA-633A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions Instructions

Номер по каталогу: 077126200
Manual 26 Nov 2019
ACS Software Quick Start Guide

Номер по каталогу: ACS-903-01
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

Номер по каталогу: 071348701
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual
User's manual for the 4200A CV-IV multi-switch.

Номер по каталогу: 4200A-CVIV-900-01D
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

Номер по каталогу: 4200A-901-01F
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide Quick Start User Manual

Номер по каталогу: 4200A-903-01A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide Quick Start User Manual

Номер по каталогу: 4200A-PK3-903-01A
Manual 26 Nov 2019
KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 Software Release Notes & Installation Instructions
Release notes and installation instructions for KTE Interactive software for the 4200. Release Notes

Номер по каталогу: PA-895R
Manual 26 Nov 2019
Model 4200-Compiler Installation Instructions
4200-Compiler installation instructions for the 4200A-SCS and 4200-SCS Instructions

Номер по каталогу: PA-1030E
Manual 26 Nov 2019
Model 4210-MMPC-C Multi-Measurement Prober Cable Kit Quick Start Guide
This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup. Instruction Manual

Номер по каталогу: PA-1001D
Manual 26 Nov 2019
ACS Software Reference Manual

Номер по каталогу: ACS-901-01
Manual 26 Nov 2019
ACS Basic Software Reference Manual

Номер по каталогу: ACSBASIC-901-01
Manual 26 Nov 2019
ACS Basic Software Quick Start Guide

Номер по каталогу: ACSBASIC-903-01
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide Quick Start User Manual

Номер по каталогу: 4200A-PK2-903-01A
Manual 26 Nov 2019
Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM

Номер по каталогу: PA-624C
Manual 26 Nov 2019
Pulse I-V Characterization of Non-Volatile Memory Technologies

Номер публикации: 1KW-60638-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60644-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

Номер публикации: 1KW-1559-0
Руководство 26 Nov 2019
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

Номер публикации: 1KW-60826-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60636-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve

Номер публикации: 1KW-60158-1
Примечание по применению 26 Nov 2019
How to Choose and Apply Source Measure Unit SMU Instruments
Примечание по применению 26 Nov 2019
Evolving Materials and Testing for Emerging Generations of Power Electronics Design
Transitioning from silicon to wide bandgap semiconductors such as silicon carbide and gallium nitride means that power module designs can be physically smaller than what came before, while also increasing MOSFET switching speed and energy efficiency.

Номер публикации: 75W-61556-0
Краткое техническое описание 26 Nov 2019
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60633-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60642-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
DC I-V Testing for Components and Semiconductor Devices
DC I-V measurements are the cornerstone of device and material testing. This DC I-V testing applications e-guide features a concentration of application notes on DC I-V testing methods and techniques using Keithley’s Model 4200-SCS Parameter Analyzer
Примечание по применению 26 Nov 2019
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60645-0
Примечание по применению 26 Nov 2019
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2
4200-SCS KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 includes all changes from KTEI V9.1 Service Pack 1, plus additional enhancements and fixes for known bugs. This service pack is to be installed on top of either KTEI V9.1 or V9.1 Service Pack 1 software on

Номер по каталогу: 4200-KTEI-V9.1SP2
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.7
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a

Номер по каталогу: 4200A-CLARIUS-V1.7
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3
The 4200A-SCS Clarius+ Software Suite provides a clear, uncompromised parameter analysis for your semiconductor devices, materials, processes and more. Download the latest version of Clarius+ to stay up-to-date with the ever-growning library of ready

Номер по каталогу: 4200A-CLARIUS-V1.3
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a per

Номер по каталогу: 4200A-CLARIUS-V1.5
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.6.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a

Номер по каталогу: 4200A-CLARIUS-V1.6.1
Software 12 Nov 2019
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement

Номер публикации: 1KW-60643-0
Примечание по применению 12 Nov 2019
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure Instruments
Информационный бюллетень 12 Nov 2019
Resistivity Measurements of Semiconductor Materials Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer and a Four-Point Collinear Probe

Номер публикации: 1KW-60640-0
Примечание по применению 12 Nov 2019
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
This e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measuremen

Номер публикации: 1KW-60780-1
Брошюра 12 Nov 2019
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process

Номер публикации: 1KW-60873-1
Информационный бюллетень 12 Nov 2019
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60639-0
Примечание по применению 12 Nov 2019
Using the Model 4225-RPM Remote Amplifier/ Switch to Automate Switching Between DC I-V, C-V, and Pulsed I-V Measurements

Номер публикации: 1KW-60628-0
Примечание по применению 12 Nov 2019
METHODS AND TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

Номер публикации: 1KW-60825-0
Примечание по применению 12 Nov 2019
Using the 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Номер публикации: 1KW-60637-0
Примечание по применению 12 Nov 2019
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
In this video, we show you how to quickly set up your test for making automatic I-V and C-V measurements on the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Get tips on improving DC I-V and capacitance voltage measurements, along with tips on performing DC pulsed tests.
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run t...
Listen to our panel discuss three semiconductor measurement applications where shrinking sizes or faster speeds have changed the device measurement methods being used for the newest memory, integr...
Measuring new materials or devices? Watch how you can get insights faster-than-ever with hassle-free connections, faster test setup, and built-in test libraries and learning tools. See how to gain...