Разработка и изготовление полупроводниковых устройств

Использование новых полупроводниковых материалов, таких как SiC и GaN, часто приводит к необходимости решения уникальных задач во время разработки.

  • Для определения характеристик постоянного тока полупроводниковых устройств требуется проведение комплексных измерений для получения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик, а также измерений коротких импульсов.
  • Тестирование полупроводниковых устройств высокой мощности приводит к необходимости повышения уровней напряжения и мощности, уменьшения времени переключения, увеличения пиковых токов и уменьшения токов утечки.
  • Оборудование для производства полупроводниковых приборов должно быть автоматизированным, оснащенным интегрированной зондовой измерительной установкой, иметь высокий уровень быстродействия и производительности, чтобы обеспечить проведение испытаний с сортировкой кристаллов, испытаний для определения качества полупроводниковой пластины и испытаний на надежность.

Высокоскоростные цифровые интерфейсы требуют более быстрой проверки физического уровня. Более быстрая отладка, декодирование протокола и определение джиттера и помех от источников, например перекрестных помех, являются важными требованиями для разработчиков.

Так много проверочных электрические испытаний и так мало времени!

Библиотека

There’s much more to choosing a DMM than just its number of digits. With…

1:27
Title
Current/Voltage Made Accurate and Simple

In our webinar we look at ten common applications, from LEDs and Laser Diodes to measuring power efficiency of power management ICs and solar cells. 

Current/Voltage Made Accurate and Simple

In our webinar we look at ten common applications, from LEDs and Laser Diodes to measuring power efficiency of power management ICs and solar cells. 

Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top