RU
Страна
×
RU

Выберите регион, чтобы настроить свой опыт:

Включить меню
RU
Страна
×
RU

Выберите регион, чтобы настроить свой опыт:

Свяжитесь с нами

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00, тихоокеанское поясное время.

Звонок

Позвоните нам

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

DC I-V Testing for Components and Semiconductor Devices


DC I-V measurements are the cornerstone of device and material testing. This DC I-V testing applications e-guide features a concentration of application notes on DC I-V testing methods and techniques using Keithley’s Model 4200-SCS Parameter Analyzer. The Model 4200-SCS provides a wide range of I-V measurements including sub-pA leakage measurements and µΩ resistance measurements.