RU
Страна
×
RU

Выберите регион, чтобы настроить свой опыт:

Включить меню
RU
Страна
×
RU

Выберите регион, чтобы настроить свой опыт:

Свяжитесь с нами

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00, тихоокеанское поясное время.

Звонок

Позвоните нам

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Automating High and Low Frequency C-V Measurements and Interface Trap Density (DIT) Calculations of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer


This application note discusses how to use the 4200A-SCS Parameter Analyzer to measure and to automatically switch between high and low frequency C-V measurements on MOS capacitors. Basic information on MOS capacitors and common parameter extractions is also discussed.