Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
Тестирование полупроводниковых устройств и компонентов
Узнайте о рекомендациях и методах решения задач, связанных с определением характеристик современных полупроводниковых устройств
- Технология эффективной подвижности канала
- Мониторинг пробоя оксидного слоя
- Память на фазовых переходах
- Температурная нестабильность при смещении (BTI) для КМОП-транзисторов
- Лабораторная автоматизация на уровне пластины
Воспользуйтесь нашим электронным руководством, чтобы получить полное представление об этих методах тестирования полупроводниковых устройств.