Материаловедение

Определение возможностей новых материалов

Современным потребителям необходимы более маленькие, легкие и дешевые электронные приборы, чем когда-либо раньше. Эти приборы должны быть оснащены большим количеством функций и иметь увеличенное время работы. Чтобы удовлетворить эти противоречивые требования, исследователям необходимо разрабатывать новые материалы, уменьшать габариты существующих устройств и повышать их эффективность. Стремление увеличить плотность компонентов в устройствах, повысить их производительность и снизить энергопотребление привело к исследованиям графена и других двумерных твердых веществ с высокой подвижностью носителей, а также органических полупроводников и наноустройств.

Для увеличения времени работы устройств требуются высокоэффективные батареи, в которых будут использоваться новые материалы для электролитов и электродов. Кроме того, в настоящее время ведутся разработки передовых технологий топливных элементов, которые позволят повысить эффективность и снизить стоимость электрических транспортных средств нового поколения. Потребность в более экологичных решениях для генерации электроэнергии подстегивает исследования в области высокотемпературных сверхпроводников и силовых полупроводниковых приборов, необходимых для преобразования энергии. Ряд материалов, например арсенид галлия (GaAs) и карбид кремния (SiC), будут ключевыми для будущих технологий передачи энергии. Исследования в области материалов также необходимы для увеличения эффективности преобразования энергии и повышения выходной мощности солнечных батарей. Чтобы повысить эффективность лазерных диодов для увеличения объемов передаваемых данных, необходимо изучать новые материалы и структуры.

Для определения характеристик материалов необходимы сверхчувствительные приборы, которые позволяют измерять токи утечки уровня фемтоампер и сопротивления уровня микроом (для оценки сопротивления материалов с высокоподвижными носителями). С другой стороны, для измерения характеристик новейших изоляторов зачастую необходимо выполнять измерения в диапазоне тераом. При исследованиях сверхпроводников или наноматериалов, проводимых при температурах, близких к 0 ⁰K, необходимо уменьшить уровень прикладываемой энергии. Это позволит снизить самонагрев, который может повлиять на параметры устройств или материалов либо вовсе повредить их. Это влечет за собой необходимость использовать источники очень слабого постоянного тока или импульсов тока.

Библиотека

Title
Performing Cyclic Voltammetry Measurements Using 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab Systems

This application note outlines using either a 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab System to perform cyclic voltammetry using the built-in test script and electrochemistry translation cable accessory kit.

Leakage Current and Insulation Resistance Measurements
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements

With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data collection to a few minutes, while improving accuracy.

Hall Effect Measurements Essential for Characterizing High Carrier Mobility
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS
Resistivity Measurements Using the Model 2450 SourceMeter SMU Instrument and a Four-Point Collinear Probe
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A

The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall…

31:10
Заголовок
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization

This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to get the most information about your device.

Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top