Загрузить
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Материаловедение

Определение возможностей новых материалов

Современным потребителям необходимы более маленькие, легкие и дешевые электронные приборы, чем когда-либо раньше. Эти приборы должны быть оснащены большим количеством функций и иметь увеличенное время работы. Чтобы удовлетворить эти противоречивые требования, исследователям необходимо разрабатывать новые материалы, уменьшать габариты существующих устройств и повышать их эффективность. Стремление увеличить плотность компонентов в устройствах, повысить их производительность и снизить энергопотребление привело к исследованиям графена и других двумерных твердых веществ с высокой подвижностью носителей, а также органических полупроводников и наноустройств.

Для увеличения времени работы устройств требуются высокоэффективные батареи, в которых будут использоваться новые материалы для электролитов и электродов. Кроме того, в настоящее время ведутся разработки передовых технологий топливных элементов, которые позволят повысить эффективность и снизить стоимость электрических транспортных средств нового поколения. Потребность в более экологичных решениях для генерации электроэнергии подстегивает исследования в области высокотемпературных сверхпроводников и силовых полупроводниковых приборов, необходимых для преобразования энергии. Ряд материалов, например арсенид галлия (GaAs) и карбид кремния (SiC), будут ключевыми для будущих технологий передачи энергии. Исследования в области материалов также необходимы для увеличения эффективности преобразования энергии и повышения выходной мощности солнечных батарей. Чтобы повысить эффективность лазерных диодов для увеличения объемов передаваемых данных, необходимо изучать новые материалы и структуры.

Для определения характеристик материалов необходимы сверхчувствительные приборы, которые позволяют измерять токи утечки уровня фемтоампер и сопротивления уровня микроом (для оценки сопротивления материалов с высокоподвижными носителями). С другой стороны, для измерения характеристик новейших изоляторов зачастую необходимо выполнять измерения в диапазоне тераом. При исследованиях сверхпроводников или наноматериалов, проводимых при температурах, близких к 0 ⁰K, необходимо уменьшить уровень прикладываемой энергии. Это позволит снизить самонагрев, который может повлиять на параметры устройств или материалов либо вовсе повредить их. Это влечет за собой необходимость использовать источники очень слабого постоянного тока или импульсов тока.

Электрометр 6430

6430_FRT__W_Preamp1_0
Благодаря возможности измерять токи с чувствительностью 1 аА электрометр 6430 идеально подходит для исследований одиночных электровакуумных приборов, нанопроводов и нанотрубок, полимеров и электромеханических областей применения.

Приборы SourceMeter® с графическим сенсорным экраном для измерения параметров источников

2461_TouchcSreen_CurrentGraph
Прецизионный источник напряжения или тока с одновременным измерением в приборах, объединяющих в себе возможности источника питания, цифрового мультиметра, источника тока и электронной нагрузки.

Стабилизаторы напряжения Keithey для электрохимической промышленности

electrochemistry-systems_2_0
Стабилизаторы напряжения Keithley выполняют циклическую и гальваническую вольтамперометрию, вольтамперометрию прямоугольных сигналов, хроноамперометрию, хронопотенциометрию и многие другие виды измерений. Их можно использовать в электрохимических лабораториях для определения характеристик материалов и электролитов нового поколения, при исследованиях новых устройств для хранения энергии и разработке малогабаритных быстродействующих датчиков.

Library

Title
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall Effect and van der Pauw measurements for calculating sample resistivity and mobility among other parameters as well as h...
Sensors and Semiconductors Testing Materials for Tomorrows Smart Devices
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
Tips and Techniques to Simplify MOSFET-MOSCAP Device Characterization
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to ge...