Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Опробуйте БЕСПЛАТНО на своём ПК .

4200-promo-options

Диапазон базисных цен
-
Купить/Запросить цену
Диапазон измерений
ВАХ пост. тока (I-V)

от 10 аА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В

Диапазон изм. вольт-фарадной хар-ки
(C-V)

от 1 кГц до 10 МГц
± 30 В пост. тока смещение

Диапазон импульсной ВАХ
(I-V)

±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мвыб/с, период выборки 5 нс

 

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

Thumbnail

Подключение к новейшим разработкам ещё никогда не было таким простым. Параметрический анализатор 4200A-SCS существенно снижает сложность определения характеристик и вдвое сокращает длительность настройки тестирования, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому необходимо добавить интегрированный в прибор опыт измерений — впервые в отрасли в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Встроенное видеоруководство по измерениям на английском, китайском, японском и корейском языке
  • Мгновенная подготовка к тестированию при помощи сотен подстраиваемых под требования пользователя тестовых программ
  • Автоматизированное отображение параметров в режиме реального времени, графики данных, арифметические функции

Измерение. Переключение. И возврат.

Thumbnail

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Характеристики. Адаптация под заказчика. Максимум испытаний.

Thumbnail

Анализатор 4200A-SCS — это полностью обновляемый и полностью настраиваемый под требования заказчика прибор, позволяющий определять электрические характеристики и оценку полупроводниковых приборов, новых материалов, активных/пассивных компонентов, надёжность подложки, анализировать неполадки, электрохимические показатели или практически любые образцы.

Основные преимущества

  • Тестирование NBTI/PBTI (температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении)
  • Измерение случайного телеграфного шума
  • Тестирование устройств с энергонезависимой памятью
  • Тесты с применением потенциостата

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах.

Thumbnail

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических устройств для испытаний схем на полупроводниковой пластине и контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

Снижение затрат и защита капиталовложений

Планы Keithley Care обеспечивают быстрое оказание качественных услуг за часть стоимости, уплачиваемой при заказе услуги без договора. Начать ремонт можно в один клик или по телефону, нет необходимости запрашивать ценовое предложение, оформлять наряд-заказ или дожидаться согласования.

Подробнее

Техническое описание Модель Описание Цена
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK1
с высоким разрешением, измерение I-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА
Для определения характеристик двух- и трёхвыводных элементов, полевых МОП-транзисторов, КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK1 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK2
с высоким разрешением, измерение I-V и C-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK2 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK3
с высоким разрешением, для мощных элементов, измерение I-V и C-V
210В/1А, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик мощных элементов, элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK3 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200-BTI-A
Сверхбыстрый измеритель температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении
Для достоверных измерений температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении современных кремниевых КМОП-элементов В комплект 4200-BTI-A входят:
  • (1) Модуль сверхбыстрого измерения ВАХ 4225-PMU
  • (2) Модули дистанционного предусилителя/коммутатора 4225-RPM
  • Пакет ПО для автоматического определения характеристик (ACS)
  • Сверхбыстрый модуль для тестирования температурной нестабильности при смещении
  • Провода
Запросить цену

Надёжность полупроводниковых приборов

Анализатор 4200A-SCS позволяет выполнять комплексное тестирование надёжности без необходимости сложного кодирования. Встроенные в прибор планы тестирования, такие как оценка деградации горячих носителей (HCI), покрывают основные требования к анализу устройств.

Основные преимущества

  • Измерения ВАХ постоянного тока, ВФХ и импульсных характеристик в одном наборе тестов
  • Поддержка многих измерительных станций и внешних приборов
  • Простая в использовании система контроля циклов позволяет выполнять повторные измерения без кодирования

Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств

Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.

Основные преимущества

  • Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
  • Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ

Энергонезависимая память

При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.

Тестирование лазеров поверхностного излучения с вертикальным резонатором (VCSEL)

При помощи нескольких согласованных источников-измерителей (SMU), установленных в анализаторе 4200A-SCS, можно существенно упростить тестирование лазерных диодов. Характеристики LIV (интенсивность света, ток, напряжение) определяются при подключении только к одному блоку. Поддержка усовершенствованной измерительной станции и переключения блоков означает, что при помощи одного и того же прибора можно выполнять заводские испытания отдельных диодов или всей матрицы на стадии пластины. В анализатор можно установить источники-измерители мощностью до 21 Вт для анализа множества гармонических сигналов (CW) лазерных диодов VCSEL разного назначения.

Определение характеристик наноразмерных устройств

Благодаря блочной архитектуре, анализатор 4200A-SCS может упростить требования к измерениям в быстро развивающейся наноэлектронике, в частности к тестированию углеродных нанотрубок. Исследования нужно начинать с предварительно заданного плана тестирования и на его основе расширять измерения. Импульсный режим работы источников-измерителей (SMU), решающий проблему перегрева, можно использовать для секундных измерений ВПФ при низком напряжении и сверхбыстрых импульсных ВАХ.

Удельное сопротивление материалов

При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 1016 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.

Определение характеристик полевых МОП-транзисторов

В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.

Техническое описание Модуль Описание Конфигурация и ценовое предложение
4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и цена
4200-PA МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ Конфигурация и цена
4200-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и цена
4200A-CVIV КОММУТАЦИОННЫЙ БЛОК ВАХ/ВФХ (CVIV) Конфигурация и цена
4210-CVU МОДУЛЬ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК Конфигурация и цена
4210-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и цена
4220-PGU МОДУЛЬ ГЕНЕРАТОРА ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ ИМПУЛЬСОВ Конфигурация и цена
4225-PMU МОДУЛЬ СВЕРХБЫСТРОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВАХ В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИМЕ Конфигурация и цена
4225-RPM МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ/ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЯ Конфигурация и цена
4200-SMU-R ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СО СРЕДНЕЙ МОЩНОСТЬЮ, ЗАМЕНЯЕМЫЙ В ПОЛЕВЫХ УСЛОВИЯХ Конфигурация и цена
4210-SMU-R ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ С ВЫСОКОЙ МОЩНОСТЬЮ, ЗАМЕНЯЕМЫЙ В ПОЛЕВЫХ УСЛОВИЯХ Конфигурация и цена
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Номер по каталогу: 1KW-60826-0
Примечание по применению 10 Nov 2018
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Номер по каталогу: 1KW-60780-4
Техническая спецификация
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Номер по каталогу: 4200A-CLARIUS-V1.5
Application
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2

Номер по каталогу: 4200-KTEI-V9.1SP2
Application
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to implement and optimize quasistatic C-V measurements using the 4200A-SCS and the ramp rate method.
Номер по каталогу: 1KW-60639-0
Application Note 10 Nov 2018
van der Pauw and Hall Voltage Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make resistivity measurements of semiconductor materials using the 4200A-SCS and the van der Pauw method.
Номер по каталогу: 1KW-60641-0
Application Note 10 Nov 2018
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for…
Номер по каталогу: 1KZ-61313-0
Application Note 10 Nov 2018
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK2 provides unpacking and basic connection information. It also provides sample tests that you can use to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Номер по каталогу: 4200A-PK2-903-01A
Primary User
Model 4200A-SCS Clarius V1.4.1 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Номер по каталогу: 077132605
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note discusses how to use a Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer equipped with the 4210-CVU Integrated C-V Option to make C‑V measurements on MOS capacitors. It also addresses the basic principlesof MOS caps, performing C‑V measurements…
Номер по каталогу: 1KW-60645-0
Application Note 10 Nov 2018
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Номер по каталогу: 1KW-60826-0
Application Note 10 Nov 2018
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Brief introduction to the Keithley Instruments 4200A-SCS Parameter Analyzer, including unpacking and initial connection information.
Номер по каталогу: 4200A-903-01A
Primary User
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Номер по каталогу: 077134300
Declassification
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes the VLF C-V technique, explains how to make connections to the device under test (DUT,) shows how to use the provided software, and describes optimizing VLF C-V measurements using the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Номер по каталогу: 1KW-60644-0
Application Note 10 Nov 2018
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement
This application note describes a novel Ultra-Fast Single Pulse technique (UFSP) [4, 5] for accurate mobility evaluation, including the technique principle, how to connect the device, and how to use the Clarius software in the 4200A-SCS Parameter Analyzer…
Номер по каталогу: 1KW-60643-0
Application Note 10 Nov 2018
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes Keithley’s best known methods and recommendations for optimizing low current measurements using the 4200A-SCS.
Номер по каталогу: 1KW-60636-0
Application Note 10 Nov 2018
Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top