Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Диапазон измерений
ВАХ (I-V)

от 10 аА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В

Диапазон изм. вольт-фарадной хар-ки
(C-V)

от 1 кГц до 10 МГц
± 30 В пост. тока смещение

Диапазон импульсной ВАХ
(I-V)

±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мвыб/с, период выборки 5 нс

 

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

Thumbnail

Подключение к новейшим разработкам ещё никогда не было таким простым. Параметрический анализатор 4200A-SCS существенно снижает сложность определения характеристик и вдвое сокращает длительность настройки тестирования, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому необходимо добавить интегрированный в прибор опыт измерений — впервые в отрасли в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Встроенное видеоруководство по измерениям на английском, китайском, японском и корейском языке
  • Мгновенная подготовка к тестированию при помощи сотен подстраиваемых под требования пользователя тестовых программ
  • Автоматизированное отображение параметров в режиме реального времени, графики данных, арифметические функции

Измерение. Переключение. И возврат.

Thumbnail

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Характеристики. Адаптация под заказчика. Максимум испытаний.

Thumbnail

Анализатор 4200A-SCS — это полностью обновляемый и полностью настраиваемый под требования заказчика прибор, позволяющий определять электрические характеристики и оценку полупроводниковых приборов, новых материалов, активных/пассивных компонентов, надёжность подложки, анализировать неполадки, электрохимические показатели или практически любые образцы.

Основные преимущества

  • Тестирование NBTI/PBTI (температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении)
  • Измерение случайного телеграфного шума
  • Тестирование устройств с энергонезависимой памятью
  • Тесты с применением потенциостата

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах.

Thumbnail

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических устройств для испытаний схем на полупроводниковой пластине и контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, MicroManipulator, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

 

Модели

Модель Диапазон вольт-амперной характеристики Диапазон вольт-фарадной характеристики Диапазон импульсной вольт-амперной характеристики List Price
4200A-SCS от 10 мА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В
от 1 кГц до 10 МГц ±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мегавыборок в секунду, период выборки 5 нс
Конфигурация и цена
Модель4200A-SCS
Диапазон вольт-амперной характеристикиДиапазон вольт-фарадной характеристикиДиапазон импульсной вольт-амперной характеристики
от 10 мА до 1 А<br/> от 0,2 мкВ до 210 Вот 1 кГц до 10 МГц±40 В (80 В размах), ±800 мА<br/> 200 Мегавыборок в секунду, период выборки 5 нс
Модель Диапазон вольт-амперной характеристики Диапазон вольт-фарадной характеристики Диапазон импульсной вольт-амперной характеристики List Price
4200A-SCS от 10 мА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В
от 1 кГц до 10 МГц ±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мегавыборок в секунду, период выборки 5 нс
Конфигурация и цена
Модель4200A-SCS
Диапазон вольт-амперной характеристикиДиапазон вольт-фарадной характеристикиДиапазон импульсной вольт-амперной характеристики
от 10 мА до 1 А<br/> от 0,2 мкВ до 210 Вот 1 кГц до 10 МГц±40 В (80 В размах), ±800 мА<br/> 200 Мегавыборок в секунду, период выборки 5 нс

Semiconductor Reliability

Perform complex reliability tests while letting the 4200A-SCS take care of the complex coding. Included projects like Hot Carrier Injection Degradation (HCI) give you a jump start on device analysis.

Highlights

  • Combine DC I-V, C-V, and pulse measurements in one set of tests
  • Included support for many probe stations and external instruments
  • Easy to use cycling system allows repeat measurements without coding

C-V Measurement for High Impedance Applications

Use Keithley’s custom Very Low Frequency C-V Technique to analyze the capacitance of your high resistance sample. This technique is performed using only source measure unit (SMU) instruments but can be combined with a 4210-CVU to perform higher frequency measurements as well.

Highlights

  • .01 to 10 Hz frequency range with sensitivity of 1 pF to 10 nF
  • 3½-digit typical resolution, minimum typical of 10 fF

Non-volatile Memory

Put your new technologies to the test with thorough pulsed I-V characterization. The 4200A-SCS comes with support and ready-to-run tests for the latest in NVRAM technologies from floating gate flash to ReRAM and FeRAM. Dual sourcing and measuring capabilities in current and voltage allow both transient and I-V domain characterization.

VCSEL Testing

Multiple, concurrent source measure unit (SMU) instruments in the 4200A-SCS simplify your laser diode testing. Generate LIV (Light intensity-Current-Voltage) curves with connections to only a single box. Advanced probe station and switch support means you can use the same instrument for on-wafer production testing of individual diodes or entire arrays. SMUs can be configured for up to 21 W capabilities for a variety of continuous wave (CW) VCSEL applications.

Nanoscale Device Characterization

The integrated instrument capabilities of the 4200A-SCS simplify the measurement requirements in developing nanoscale electronics such as carbon nanotubes. Start your investigations from a preconfigured test project and expand your work from there. A pulsed source mode for SMUs helps reduce overheating problems can be combined with low voltage C-V and ultra-fast pulsed DC measurements in seconds.

Resistivity of Materials

Use a 4200A-SCS with integrated SMUs to easily measure resistivity using a four-point collinear probe or van der Pauw method. Included tests perform repetitive van der Pauw calculations automatically, saving you valuable research time. A maximum current resolution of 10aA and input impedance of >10­­­­16 ohms give you more accurate and precise results.

MOSFET Characterization

The 4200A-SCS can hold all the instruments necessary for full characterization of MOS devices through component or on-wafer testing. Included tests and projects solve for oxide thickness of a MOSCap, threshold voltages, doping concentration, mobile ion concentration, and more. All these tests can be run at the touch of a button from a single instrument box.

Техническое описание Модель Описание Цена
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK1
с высоким разрешением, измерение I-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА
Для определения характеристик двух- и трёхвыводных элементов, полевых МОП-транзисторов, КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK1 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK2
с высоким разрешением, измерение I-V и C-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK2 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK3
с высоким разрешением, для мощных элементов, измерение I-V и C-V
210В/1А, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик мощных элементов, элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK3 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200-BTI-A
Сверхбыстрый измеритель температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении
Для достоверных измерений температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении современных кремниевых КМОП-элементов В комплект 4200-BTI-A входят:
  • (1) 4225-PMU Сверхбыстрый модуль измерения I-V
  • (2) Модули предусилителя/переключения с дистанционным управлением 4225-RPM
  • Пакет ПО для автоматического определения характеристик (ACS)
  • Сверхбыстрый модуль для тестирования температурной нестабильности при смещении
  • Провода
Запросить цену

 

Технические характеристикиModuleDescription
4200-BTI-A ULTRA FAST BTI PKG FOR MODEL 4200-SCS
4200-PA REMOTE PREAMP OPT 4200-SMU AND 4210-SMU
4200-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT
4200A-CVIV КОММУТАТОР
4210-CVU 4210 CAPACITANCE VOLTAGE UNIT 1KHZ-10MHZ
4210-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT
4220-PGU ДВУХКАНАЛЬНЫЙ ГЕНЕРАТОР ИМПУЛЬСОВ
4225-PMU ULTRA-FAST I-V MODULE FOR THE 4200-SCS
4225-RPM REMOTE AMPLIFIER/SWITCH FOR THE MODEL 4225-PMU
заглавиеТипДата
Switching Between C-V and I-V Measurements Using the 4200A-CVIV Multi-Switch and 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to easily make I-V and C-V measurements on the same device without the need to change cables, which could potentially introduce errors or damage devices.

Literature number: 1KZ-60635-0
Application Note 30 Oct 2017
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.

Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions


Part number: 071348701
19 Oct 2017
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Reference Manual
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization Suite Reference Manual KTEI v9.0
Part number: 4200-901-01P
28 Aug 2017
KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 Software Release Notes & Installation Instructions
This document provides supplemental information regarding KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 (SP2). This information includes detailed instructions describing how to install this service pack and and summary of fixes and enhancements included in KTE…
Part number: PA-895R
Release Notes 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius,…
Part number: 4200A-901-01C
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200A Parameter Analyzer User's Manual
This User's Manual includes specific applications to help you get started quickly.
Part number: 4200A-900-01B
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK2 provides unpacking and basic connection information. It also provides sample tests that you can use to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Part number: 4200A-PK2-903-01A
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK3 provides unpacking and basic connection information. It also provides step-by-step examples to allow you to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Part number: 4200A-PK3-903-01A
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Brief introduction to the Keithley Instruments 4200A-SCS Parameter Analyzer, including unpacking and initial connection information.
Part number: 4200A-903-01A
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200-Compiler Installation Instructions
Installation instructions for the Model 4200-Compiler, a compiler that you can use to create user modules for the 4200A-SCS Parameter Analyzer and the 4200-SCS.
Part number: PA-1030E
Combined User/Service 28 Aug 2017
Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top