Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Опробуйте БЕСПЛАТНО на своём ПК .

4200-promo-options

Диапазон базисных цен
-
Диапазон измерений
ВАХ пост. тока (I-V)

от 10 аА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В

Диапазон изм. вольт-фарадной хар-ки
(C-V)

от 1 кГц до 10 МГц
± 30 В пост. тока смещение

Диапазон импульсной ВАХ
(I-V)

±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мвыб/с, период выборки 5 нс

 

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

Thumbnail

Подключение к новейшим разработкам ещё никогда не было таким простым. Параметрический анализатор 4200A-SCS существенно снижает сложность определения характеристик и вдвое сокращает длительность настройки тестирования, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому необходимо добавить интегрированный в прибор опыт измерений — впервые в отрасли в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Встроенное видеоруководство по измерениям на английском, китайском, японском и корейском языке
  • Мгновенная подготовка к тестированию при помощи сотен подстраиваемых под требования пользователя тестовых программ
  • Автоматизированное отображение параметров в режиме реального времени, графики данных, арифметические функции

Измерение. Переключение. И возврат.

Thumbnail

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Характеристики. Адаптация под заказчика. Максимум испытаний.

Thumbnail

Анализатор 4200A-SCS — это полностью обновляемый и полностью настраиваемый под требования заказчика прибор, позволяющий определять электрические характеристики и оценку полупроводниковых приборов, новых материалов, активных/пассивных компонентов, надёжность подложки, анализировать неполадки, электрохимические показатели или практически любые образцы.

Основные преимущества

  • Тестирование NBTI/PBTI (температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении)
  • Измерение случайного телеграфного шума
  • Тестирование устройств с энергонезависимой памятью
  • Тесты с применением потенциостата

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах.

Thumbnail

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических устройств для испытаний схем на полупроводниковой пластине и контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

Снижение затрат и защита капиталовложений

Планы Keithley Care обеспечивают быстрое оказание качественных услуг за часть стоимости, уплачиваемой при заказе услуги без договора. Начать ремонт можно в один клик или по телефону, нет необходимости запрашивать ценовое предложение, оформлять наряд-заказ или дожидаться согласования.

Подробнее

Техническое описание Модель Описание Цена
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK1
с высоким разрешением, измерение I-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА
Для определения характеристик двух- и трёхвыводных элементов, полевых МОП-транзисторов, КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK1 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK2
с высоким разрешением, измерение I-V и C-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK2 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK3
с высоким разрешением, для мощных элементов, измерение I-V и C-V
210В/1А, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик мощных элементов, элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK3 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200-BTI-A
Сверхбыстрый измеритель температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении
Для достоверных измерений температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении современных кремниевых КМОП-элементов В комплект 4200-BTI-A входят:
  • (1) Модуль сверхбыстрого измерения ВАХ 4225-PMU
  • (2) Модули дистанционного предусилителя/коммутатора 4225-RPM
  • Пакет ПО для автоматического определения характеристик (ACS)
  • Сверхбыстрый модуль для тестирования температурной нестабильности при смещении
  • Провода
Запросить цену

Надёжность полупроводниковых приборов

Анализатор 4200A-SCS позволяет выполнять комплексное тестирование надёжности без необходимости сложного кодирования. Встроенные в прибор планы тестирования, такие как оценка деградации горячих носителей (HCI), покрывают основные требования к анализу устройств.

Основные преимущества

  • Измерения ВАХ постоянного тока, ВФХ и импульсных характеристик в одном наборе тестов
  • Поддержка многих измерительных станций и внешних приборов
  • Простая в использовании система контроля циклов позволяет выполнять повторные измерения без кодирования

Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств

Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.

Основные преимущества

  • Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
  • Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ

Энергонезависимая память

При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.

Тестирование лазеров поверхностного излучения с вертикальным резонатором (VCSEL)

При помощи нескольких согласованных источников-измерителей (SMU), установленных в анализаторе 4200A-SCS, можно существенно упростить тестирование лазерных диодов. Характеристики LIV (интенсивность света, ток, напряжение) определяются при подключении только к одному блоку. Поддержка усовершенствованной измерительной станции и переключения блоков означает, что при помощи одного и того же прибора можно выполнять заводские испытания отдельных диодов или всей матрицы на стадии пластины. В анализатор можно установить источники-измерители мощностью до 21 Вт для анализа множества гармонических сигналов (CW) лазерных диодов VCSEL разного назначения.

Определение характеристик наноразмерных устройств

Благодаря блочной архитектуре, анализатор 4200A-SCS может упростить требования к измерениям в быстро развивающейся наноэлектронике, в частности к тестированию углеродных нанотрубок. Исследования нужно начинать с предварительно заданного плана тестирования и на его основе расширять измерения. Импульсный режим работы источников-измерителей (SMU), решающий проблему перегрева, можно использовать для секундных измерений ВПФ при низком напряжении и сверхбыстрых импульсных ВАХ.

Удельное сопротивление материалов

При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 1016 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.

Определение характеристик полевых МОП-транзисторов

В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.

Техническое описание Модуль Описание Конфигурация и ценовое предложение
4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и цена
4200-PA МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ Конфигурация и цена
4200-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и цена
4200A-CVIV КОММУТАЦИОННЫЙ БЛОК ВАХ/ВФХ (CVIV) Конфигурация и цена
4210-CVU МОДУЛЬ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК Конфигурация и цена
4210-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и цена
4220-PGU МОДУЛЬ ГЕНЕРАТОРА ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ ИМПУЛЬСОВ Конфигурация и цена
4225-PMU МОДУЛЬ СВЕРХБЫСТРОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВАХ В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИМЕ Конфигурация и цена
4225-RPM МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ/ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЯ Конфигурация и цена
4200-SMU-R ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СО СРЕДНЕЙ МОЩНОСТЬЮ, ЗАМЕНЯЕМЫЙ В ПОЛЕВЫХ УСЛОВИЯХ Конфигурация и цена
4210-SMU-R ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ С ВЫСОКОЙ МОЩНОСТЬЮ, ЗАМЕНЯЕМЫЙ В ПОЛЕВЫХ УСЛОВИЯХ Конфигурация и цена
ЗаголовокТип
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Literature number: 1KW-60826-0
Примечание по применению 02 Aug 2016
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.
Part number: 071348701
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.5
Application
Model 4200A-SCS Clarius V1.5 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132606
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual User‚s manual for the 4200A CV-IV multi-switch.
The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.
Part number: 4200A-CVIV-900-01C
Primary User
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction…The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius,…
Part number: 4200A-901-01E
Primary User
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for…
Literature number: 1KZ-61313-0
Application Note 11 Jun 2018
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Literature number: 1KW-60780-4
Техническая спецификация
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Literature number: 1KW-61388-0
Application Note 10 May 2018
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Literature number: 1KW-60158-1
Application Note 25 Apr 2018
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.
Literature number: 1KW-61356-0
Application Note 17 Apr 2018
Switch Time between Pulse IV and CV measurements using the 4225-RPM.
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate switch…
FAQ ID: 469646 16 Apr 2018
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
Answering Your Questions on Tools and TechniquesThis e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measurements…
Literature number: 1KW-60780-1
Brochure 12 Apr 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.4.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.4.1
Application
Model 4200A-SCS Clarius V1.4.1 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132605
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process…
Literature number: 1KW-60873-1
Fact Sheet 22 Feb 2018
Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top