Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS

Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Опробуйте БЕСПЛАТНО на своём ПК! Загрузить ПО Clarius »

Диапазон измерений
ВАХ (I-V)

от 10 аА до 1 А
от 0,2 мкВ до 210 В

Диапазон изм. вольт-фарадной хар-ки
(C-V)

от 1 кГц до 10 МГц
±30 В смещение по постоянному току

Диапазон импульсной ВАХ
Диапазон

±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мегавыборок в секунду, период выборки 5 нс

 

Параметрический анализ, быстрый и понятный.

Thumbnail

Подключение к новейшим разработкам ещё никогда не было таким простым. Параметрический анализатор 4200A-SCS существенно снижает сложность определения характеристик и вдвое сокращает длительность настройки тестирования, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому необходимо добавить интегрированный в прибор опыт измерений — впервые в отрасли в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

Основные преимущества

  • Встроенное видеоруководство по измерениям на английском, китайском, японском и корейском языке
  • Мгновенная подготовка к тестированию при помощи сотен подстраиваемых под требования пользователя тестовых программ
  • Автоматизированное отображение параметров в режиме реального времени, графики данных, арифметические функции

Измерение. Переключение. И возврат.

Thumbnail

Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.

Основные преимущества

  • Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
  • Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
  • Переименование выходных каналов
  • Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени

Характеристики. Адаптация под заказчика. Максимум испытаний.

Thumbnail

Анализатор 4200A-SCS — это полностью обновляемый и полностью настраиваемый под требования заказчика прибор, позволяющий определять электрические характеристики и оценку полупроводниковых приборов, новых материалов, активных/пассивных компонентов, надёжность подложки, анализировать неполадки, электрохимические показатели или практически любые образцы.

Основные преимущества

  • Тестирование NBTI/PBTI (температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении)
  • Измерение случайного телеграфного шума
  • Тестирование устройств с энергонезависимой памятью
  • Тесты с применением потенциостата

Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах.

Thumbnail

Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических устройств для испытаний схем на полупроводниковой пластине и контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, MicroManipulator, LakeShore модель 336.

Основные преимущества

  • Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
  • Режим ручного тестирования с функциями автоматического
  • Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника

 

Модели

Модель Диапазон вольт-амперной характеристики Диапазон вольт-фарадной характеристики Диапазон импульсной вольт-амперной характеристики Прайс-лист
4200A-SCS


Конфигурация и цена
Модель4200A-SCS
Диапазон вольт-амперной характеристикиДиапазон вольт-фарадной характеристикиДиапазон импульсной вольт-амперной характеристики
<br><br><br>
Модель Диапазон вольт-амперной характеристики Диапазон вольт-фарадной характеристики Диапазон импульсной вольт-амперной характеристики Прайс-лист
4200A-SCS


Конфигурация и цена
Модель4200A-SCS
Диапазон вольт-амперной характеристикиДиапазон вольт-фарадной характеристикиДиапазон импульсной вольт-амперной характеристики
<br><br><br>

Надёжность полупроводниковых приборов

Анализатор 4200A-SCS позволяет выполнять комплексное тестирование надёжности без необходимости сложного кодирования. Встроенные в прибор планы тестирования, такие как оценка деградации горячих носителей (HCI), покрывают основные требования к анализу устройств.

Основные преимущества

  • Измерения ВАХ постоянного тока, ВФХ и импульсных характеристик в одном наборе тестов
  • Поддержка многих измерительных станций и внешних приборов
  • Простая в использовании система контроля циклов позволяет выполнять повторные измерения без кодирования

Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств

Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.

Основные преимущества

  • Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
  • Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ

Энергонезависимая память

При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.

Тестирование лазеров поверхностного излучения с вертикальным резонатором (VCSEL)

При помощи нескольких согласованных источников-измерителей (SMU), установленных в анализаторе 4200A-SCS, можно существенно упростить тестирование лазерных диодов. Характеристики LIV (интенсивность света, ток, напряжение) определяются при подключении только к одному блоку. Поддержка усовершенствованной измерительной станции и переключения блоков означает, что при помощи одного и того же прибора можно выполнять заводские испытания отдельных диодов или всей матрицы на стадии пластины. В анализатор можно установить источники-измерители мощностью до 21 Вт для анализа множества гармонических сигналов (CW) лазерных диодов VCSEL разного назначения.

Определение характеристик наноразмерных устройств

Благодаря блочной архитектуре, анализатор 4200A-SCS может упростить требования к измерениям в быстро развивающейся наноэлектронике, в частности к тестированию углеродных нанотрубок. Исследования нужно начинать с предварительно заданного плана тестирования и на его основе расширять измерения. Импульсный режим работы источников-измерителей (SMU), решающий проблему перегрева, можно использовать для секундных измерений ВПФ при низком напряжении и сверхбыстрых импульсных ВАХ.

Удельное сопротивление материалов

При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 10­­­­16 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.

Определение характеристик полевых МОП-транзисторов

В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.

Техническое описание Модель Описание Цена
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK1
с высоким разрешением, измерение I-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА
Для определения характеристик двух- и трёхвыводных элементов, полевых МОП-транзисторов, КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK1 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK2
с высоким разрешением, измерение I-V и C-V
210 В/100 мA, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK2 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200A-SCS-PK3
с высоким разрешением, для мощных элементов, измерение I-V и C-V
210В/1А, разрешение 0,1 фА, от 1 кГц до 10 МГц
Для определения характеристик мощных элементов, элементов с высокой диэлектрической проницаемостью к и субмикронных КМОП-элементов В комплект 4200A-SCS-PK3 входят:
  • параметрический анализатор 4200A-SCS
  • (2) Модуль 4200-SMU
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Предусилитель 4200-PA
  • (1) Модуль измерения вольт-фарадных характеристик 4210-CVU
  • (1) Тестовая оснастка с приставкой для тестирования 8101-PIV
Запросить цену
Просмотр технического описания 4200-BTI-A
Сверхбыстрый измеритель температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении
Для достоверных измерений температурной нестабильности при отрицательном/положительном смещении современных кремниевых КМОП-элементов В комплект 4200-BTI-A входят:
  • (1) 4225-PMU Сверхбыстрый модуль измерения I-V
  • (2) Модули предусилителя/переключения с дистанционным управлением 4225-RPM
  • Пакет ПО для автоматического определения характеристик (ACS)
  • Сверхбыстрый модуль для тестирования температурной нестабильности при смещении
  • Провода
Запросить цену

 

Data SheetModuleОписаниеConfigure and Quote
4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и цена
4200-PA МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ Конфигурация и цена
4200-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и цена
4200A-CVIV КОММУТАЦИОННЫЙ БЛОК ВАХ/ВФХ (CVIV) Конфигурация и цена
4210-CVU МОДУЛЬ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК Конфигурация и цена
4210-SMU ИСТОЧНИК-ИЗМЕРИТЕЛЬ ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ Конфигурация и цена
4220-PGU МОДУЛЬ ГЕНЕРАТОРА ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ ИМПУЛЬСОВ Конфигурация и цена
4225-PMU МОДУЛЬ СВЕРХБЫСТРОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВАХ В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИМЕ Конфигурация и цена
4225-RPM МОДУЛЬ ДИСТАНЦИОННОГО ПРЕДУСИЛИТЕЛЯ/ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЯ Конфигурация и цена
4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и цена
4200-BTI-A КОМПЛЕКТ ДЛЯ СВЕРХБЫСТРОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ПРИ СМЕЩЕНИИ (BTI) Конфигурация и цена
заглавиеТипДата
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only…
FAQ ID: 255351 09 Feb 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.4
This version of Clarius+ is ONLY supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS, contact Keithley, a Tektronix company, at Tek.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a personal computer, ensure Windows 10 is the…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.4
Application 07 Feb 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3

Part number: 4200A-CLARIUS-V1.3
Application 07 Feb 2018
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
FAQ ID: 249356 25 Jan 2018
Resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS.
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek.com/document/…
FAQ ID: 248681 22 Jan 2018
I have lost the device library on the 4200A-SCS.
The best way to get the library back is to re-install Clarius the their system. It’s free from our Tek.com website. Here is the link :https://www.tek.com/software/clarius/1-3
FAQ ID: 247546 18 Jan 2018
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
Answering Your Questions on Tools and TechniquesThis e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measurements…
Literature number: 1KW-60780-1
Brochure 16 Jan 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.3 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132603
09 Jan 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.4 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132604
08 Jan 2018
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual User‚s manual for the 4200A CV-IV multi-switch.
The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.
Part number: 4200A-CVIV-900-01B
Primary User 08 Jan 2018
Загрузки
Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Go to top