Использование новых полупроводниковых материалов, таких как SiC и GaN, часто приводит к необходимости решения уникальных задач во время разработки.

  • Для определения характеристик постоянного тока полупроводниковых устройств требуется проведение комплексных измерений для получения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик, а также измерений коротких импульсов.
  • Тестирование полупроводниковых устройств высокой мощности приводит к необходимости повышения уровней напряжения и мощности, уменьшения времени переключения, увеличения пиковых токов и уменьшения токов утечки.
  • Оборудование для производства полупроводниковых приборов должно быть автоматизированным, оснащенным интегрированной зондовой измерительной установкой, иметь высокий уровень быстродействия и производительности, чтобы обеспечить проведение испытаний с сортировкой кристаллов, испытаний для определения качества полупроводниковой пластины и испытаний на надежность.

Высокоскоростные цифровые интерфейсы требуют более быстрой проверки физического уровня. Более быстрая отладка, декодирование протокола и определение джиттера и помех от источников, например перекрестных помех, являются важными требованиями для разработчиков.

Так много проверочных электрические испытаний и так мало времени!

Semiconductor Design and Test

Рекомендуемое оборудование


  • Источники-измерители (SMU) Keithley: Высокоскоростные и сверхточные источники-измерители силы тока или напряжения.
  • Параметрические анализаторы Keithley: проведение циклов измерений с определением вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик, измерений в импульсном режиме и измерений вольт-амперных характеристик при переходных процессах
  • Осциллографы: Восемь из десяти инженеров по всему миру доверяют осциллографам Tektronix при отладке и тестировании аппаратуры завтрашнего дня.